ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
14
Средства испытаний должны быть аттестованы, должны быть определены
их точностные характеристики и пригодность к работе.
Подготовка изделий к испытаниям включает выбор параметров,
характеризующих качество изделий, их внешний осмотр и измерение
параметров качества. При выборе параметров, подлежащих измерениям и
контролю в процессе испытаний, необходимо исходить из требований их
максимальной информативности, чувствительности к воздействиям и
объективной оценке качества испытываемых РЭС.
Рациональный выбор ограниченного числа информативных параметров,
критичных к воздействию объективных факторов, сокращает объем измерений
при испытаниях, следовательно, стоимость испытаний.
Перед началом испытаний испытываемые изделия необходимо
выдержать в нормальных климатических условиях (температура воздуха
(25±10) °С, относительная влажность (45-75) %, давление окружающей среды
(0,86-1,06)Т0
5
Па) в течение времени, необходимом для стабилизации
параметров. В нормальных климатических условиях проводят внешний осмотр
и первоначальные измерения параметров. Данные первоначальных измерений и
контроля внешнего вида необходимо анализировать, чтобы установить
соответствие параметров изделий требованиям НТД и отличить особенности
каждого изделия (дефекты внешнего вида, неустойчивость электрических
параметров).
В некоторых случаях испытуемые изделия необходимо распределить по
группам, подгруппам. Такое распределение производят случайным методом.
Все изделия до постановки их на испытания нужно промаркировать.
Современная проверка устройств для испытаний и испытываемого
изделия должна показать, выполняют ли устройства для испытаний свои
функции в процессе испытаний изделий. Такая проверка особенно важна, если
устройства впервые применяют для испытаний данных изделий. Проверку
устройств для испытаний РЭС проводят либо с макетным образцом, либо с
самим изделием. В результате проверки убеждаются в том, что с их помощью
можно измерить и контролировать все требуемые по НТД параметры
испытываемого изделия в установленной последовательности и с заданной
точностью. Параметры устройств сначала измеряют без объекта испытаний при
последовательном включении всех частей испытательной системы, а затем с
объектом испытаний. Во время этих испытаний проверяют методику
калибровки устройств с внесением в нее поправок в ходе испытаний.
27
для тех же самых изделий (тех же транзисторов) через некоторый интервал
времени t их испытания под нагрузкой. Тогда значение параметра каждого
изделия (транзистора) до и после испытания на срок службы обозначают
точкой в системе рассматриваемых координат.
Рис. 6. Поле корреляции
Следовательно, вся партия изделий (транзисторов), прошедших
испытание под нагрузкой, отображается разбросанными по координатному
полю точками. Совокупность этих точек и образует поле корреляции. Если
значения контролируемых параметров после испытания изделий не
изменились, то все точки располагаются на прямой, проведенной из начала
координат под углом 45° (сплошная линия на рис. 6), - это биссектриса; если же
значение параметров уменьшилось по сравнению с измеренными значениями
перед постановкой изделий на испытание, то точки располагаются ниже, если
увеличились, - то выше ее. Проведя на графике лучи, соответствующие,
например 20- и 50 %-му изменению параметра за время испытаний, нетрудно
подсчитать число точек (изделий), попавших в сектор между двумя лучами: с
изменением параметров до 20 % и до 50 % от первоначального значения.
Можно провести лучи из начала координат, соответствующие
уменьшению и увеличению параметров на 10, 20, 30, 50 %, путем подсчета
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 12
- 13
- 14
- 15
- 16
- …
- следующая ›
- последняя »
