ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
позволяют выбирать допустимые рабочие и испытательные напряженности
изоляционной конструкции аппарата высокого напряжения. Возникновение
ч. р. сопровождается как нейтрализацией некоторого заряда q в толщине ди-
электрика, так и изменением напряжения на внешних электродах образца ем-
костью С
x
на величину ∆U
x
= q
ч.р.
/ C
x
. Эквивалентная схема может быть
представлена тремя емкостями, где С
х
= С
0
+ (С
v
C
d
/ (C
v
+ C
d
)), или суммой
полной емкоcти С
0
и последовательно включенных емкостей: емкости эле-
мента диэлектрика С
v
с газовым включением, где развивается ч. р., и остав-
шейся части диэлектрика С
d
по рисунку 1.24.
В результате можно получить
dv
d
dv
dv
xxx.р.ч
CC
C
q
CC
CC
UCUd
+
=
+
∆=∆=
.
Нейтрализация заряда и связанное с этим изменение напряжения на об-
разце приводит к высокочастотным колебаниям в электрической схеме в ви-
де всплесков тока, снижения внешнего сетевого напряжения и появления
электромагнитных колебаний в области ч. р. изоляции. Такие изменения в
изоляции могут оценить регистрирующие устройства в виде индикаторов ч.
р. (ИЧР) или радиоизлучения ч. р. (ИРИ). Если к твердому диэлектрику при-
кладывать кратковременные импульсы напряжения (грозового или коммута-
ционного характера) амплитудой выше рабочего напряжения, то в нем разви-
ваются микроскопические трещины. В некоторых аморфных диэлектриках
(стекло, канифоль, целлулоид) трещины самозалечиваются и при повторных
импульсах возникают в новом месте. В большинстве твердых диэлектриков
пи импульсах ч. р. развивается по пути предыдущего, вследствие чего микро-
трещина (дефект) увеличивается. Явление, отражающее накопление дефекта
в изоляции, называется кумулятивным эффектом. Снижение пробивного на-
пряжения изоляции в зависимости от числа воздействий характеризуется ко-
эффициентом кумулятивности К
к
, равным отношению пробивных напряже-
ний при единичных и многократных воздействиях: К
к
= U
пр1
/ U
прn
.
Известны следующие виды ч. р. в изоляции по рисунку 1.25:
начальные ч. р., слабая интенсивность которых не приводит к замет-
ному разрушению изоляции или уменьшению напряжения ч. р. при кратко-
временном воздействии;
критические ч. р., значительная интенсивность которых вызывает за-
метное разрушение ( кумулятивный эффект) изоляции, сопровождающее
снижением напряжения ч. р.
В обоих случаях имеют место напряжения возникновения U
vч.р.
и пога-
сания U
vч.р.
частичного разряда и при постоянном напряжении возникающие
ч. р. оказывают существенное влияние на старение изоляции. Здесь, как и
при переменном напряжении возможны пробои участков изоляции с пони-
женной электрической прочностью (газовые включения). Однако, при посто-
янном напряжении интенсивные ч. р., типа критических, отмечаются только
при включении напряжения или при его быстром изменении во времени. По-
этому ч. р. образуются на границах газовых включений в виде поверхност-
позволяют выбирать допустимые рабочие и испытательные напряженности изоляционной конструкции аппарата высокого напряжения. Возникновение ч. р. сопровождается как нейтрализацией некоторого заряда q в толщине ди- электрика, так и изменением напряжения на внешних электродах образца ем- костью Сx на величину ∆Ux = q ч.р. / C x. Эквивалентная схема может быть представлена тремя емкостями, где Сх = С0 + ( Сv C d / (C v + C d)), или суммой полной емкоcти С0 и последовательно включенных емкостей: емкости эле- мента диэлектрика Сv с газовым включением, где развивается ч. р., и остав- шейся части диэлектрика Сd по рисунку 1.24. В результате можно получить C v Cd Cd d ч.р . = ∆U x C x = ∆U x =q . Cv + Cd Cv + Cd Нейтрализация заряда и связанное с этим изменение напряжения на об- разце приводит к высокочастотным колебаниям в электрической схеме в ви- де всплесков тока, снижения внешнего сетевого напряжения и появления электромагнитных колебаний в области ч. р. изоляции. Такие изменения в изоляции могут оценить регистрирующие устройства в виде индикаторов ч. р. (ИЧР) или радиоизлучения ч. р. (ИРИ). Если к твердому диэлектрику при- кладывать кратковременные импульсы напряжения (грозового или коммута- ционного характера) амплитудой выше рабочего напряжения, то в нем разви- ваются микроскопические трещины. В некоторых аморфных диэлектриках (стекло, канифоль, целлулоид) трещины самозалечиваются и при повторных импульсах возникают в новом месте. В большинстве твердых диэлектриков пи импульсах ч. р. развивается по пути предыдущего, вследствие чего микро- трещина (дефект) увеличивается. Явление, отражающее накопление дефекта в изоляции, называется кумулятивным эффектом. Снижение пробивного на- пряжения изоляции в зависимости от числа воздействий характеризуется ко- эффициентом кумулятивности Кк, равным отношению пробивных напряже- ний при единичных и многократных воздействиях: Кк = Uпр1 / Uпрn. Известны следующие виды ч. р. в изоляции по рисунку 1.25: начальные ч. р., слабая интенсивность которых не приводит к замет- ному разрушению изоляции или уменьшению напряжения ч. р. при кратко- временном воздействии; критические ч. р., значительная интенсивность которых вызывает за- метное разрушение ( кумулятивный эффект) изоляции, сопровождающее снижением напряжения ч. р. В обоих случаях имеют место напряжения возникновения U vч.р. и пога- сания U vч.р. частичного разряда и при постоянном напряжении возникающие ч. р. оказывают существенное влияние на старение изоляции. Здесь, как и при переменном напряжении возможны пробои участков изоляции с пони- женной электрической прочностью (газовые включения). Однако, при посто- янном напряжении интенсивные ч. р., типа критических, отмечаются только при включении напряжения или при его быстром изменении во времени. По- этому ч. р. образуются на границах газовых включений в виде поверхност-
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 42
- 43
- 44
- 45
- 46
- …
- следующая ›
- последняя »