ВУЗ:
Составители:
45
трирована в районе Южно-Атлантической магнитной аномалии, где
РПЗ провисает на низкие высоты (250-300 км). Этот факт подтверждает,
что основная доля РОС для орбит связана с воздействием высокоэнер-
гичных протонов РПЗ.
Рис.18. Изображение областей, чувствительных к РОС микросхемы,
обнаруженных при облучении микросхемы ионами аргона с энергией
144 МэВ [23]
3. ОБЪЕМНЫЕ РАЗРЯДЫ В РАДИАЦИОННО-ЗАРЯЖЕННЫХ
ДИЭЛЕКТРИКАХ
При облучении диэлектрических материалов заряженными частица-
ми может возникать их радиационное заряжение. Такое состояние ди-
электрика характеризуется аккумулированием в их объеме термализо-
ванного инжектированного заряда и как следствие образование высокой
напряженности электрического поля, Е. Если Е >Е
пр
, где (Е
пр
- электри-
ческая прочность диэлектрика), возникает спонтанный электрический
пробой аккумулированного заряда на поверхность диэлектрика, что
имеет место в случае облучения диэлектрика критическим флюенсом
частиц, Ф
кр
, который в свою очередь зависит от материала и условий
облучения [1-6]. На рис.1 показано электрическое дерево в объеме об-
лученного цилиндра из полиметилметакрилата (ПММА) после электри-
ческого пробоя внедренного заряда.
трирована в районе Южно-Атлантической магнитной аномалии, где
РПЗ провисает на низкие высоты (250-300 км). Этот факт подтверждает,
что основная доля РОС для орбит связана с воздействием высокоэнер-
гичных протонов РПЗ.
Рис.18. Изображение областей, чувствительных к РОС микросхемы,
обнаруженных при облучении микросхемы ионами аргона с энергией
144 МэВ [23]
3. ОБЪЕМНЫЕ РАЗРЯДЫ В РАДИАЦИОННО-ЗАРЯЖЕННЫХ
ДИЭЛЕКТРИКАХ
При облучении диэлектрических материалов заряженными частица-
ми может возникать их радиационное заряжение. Такое состояние ди-
электрика характеризуется аккумулированием в их объеме термализо-
ванного инжектированного заряда и как следствие образование высокой
напряженности электрического поля, Е. Если Е >Е пр, где (Епр - электри-
ческая прочность диэлектрика), возникает спонтанный электрический
пробой аккумулированного заряда на поверхность диэлектрика, что
имеет место в случае облучения диэлектрика критическим флюенсом
частиц, Фкр, который в свою очередь зависит от материала и условий
облучения [1-6]. На рис.1 показано электрическое дерево в объеме об-
лученного цилиндра из полиметилметакрилата (ПММА) после электри-
ческого пробоя внедренного заряда.
45
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 43
- 44
- 45
- 46
- 47
- …
- следующая ›
- последняя »
