Космическое материаловедение. Акишин А.И. - 52 стр.

UptoLike

Составители: 

52
ному воздействию электронных и микрометеорных потоков, может на-
блюдаться во внешних диэлектрических покрытиях, например в защит-
ных стеклах солнечных батарей. Диэлектрические материалы ИСЗ од-
новременно подвергаются воздействию электронных и протонных по-
токов, что приводит к образованию в объеме материалов зон с разно-
именными электрическими зарядами. Аналогичные явления могут про-
текать в диэлектрических структурах ускорителей на встречных пучках.
Поэтому исследование механизма внедренного электрического пробоя
разноименных зарядов в облученных диэлектриках представляет опре-
деленный практический интерес.
Количественное описание разрушений, вносимых в диэлектрик раз-
рядными каналами, затруднено. Методика фотометрирования фигуры
Лихтенберга дает возможность оценить степень механического повреж-
дения стекол. На рис.4 показано распределение полного объема разряд-
ных каналов в радиационно-заряженном ПММА после спонтанного
электрического пробоя в зависимости от их диаметра.
Рис.4. Распределение полного объема разрядных каналов в ра-
диационно-заряженном ПММА после спонтанного электриче-
ского пробоя в зависимости от их диаметра.
Основной вклад в диффузионное рассеяние света обусловлен кана-
лами диаметром в несколько десятков микрометров.
Ступенчатый механизм электрического пробоя
Современные модели электрического пробоя твердых полимерных
диэлектриков с внешними электродами предполагают наличие ступен-
чатого механизма прорастания древовидных электроразрядных каналов
ному воздействию электронных и микрометеорных потоков, может на-
блюдаться во внешних диэлектрических покрытиях, например в защит-
ных стеклах солнечных батарей. Диэлектрические материалы ИСЗ од-
новременно подвергаются воздействию электронных и протонных по-
токов, что приводит к образованию в объеме материалов зон с разно-
именными электрическими зарядами. Аналогичные явления могут про-
текать в диэлектрических структурах ускорителей на встречных пучках.
Поэтому исследование механизма внедренного электрического пробоя
разноименных зарядов в облученных диэлектриках представляет опре-
деленный практический интерес.
   Количественное описание разрушений, вносимых в диэлектрик раз-
рядными каналами, затруднено. Методика фотометрирования фигуры
Лихтенберга дает возможность оценить степень механического повреж-
дения стекол. На рис.4 показано распределение полного объема разряд-
ных каналов в радиационно-заряженном ПММА после спонтанного
электрического пробоя в зависимости от их диаметра.




     Рис.4. Распределение полного объема разрядных каналов в ра-
     диационно-заряженном ПММА после спонтанного электриче-
     ского пробоя в зависимости от их диаметра.

   Основной вклад в диффузионное рассеяние света обусловлен кана-
лами диаметром в несколько десятков микрометров.

           Ступенчатый механизм электрического пробоя
   Современные модели электрического пробоя твердых полимерных
диэлектриков с внешними электродами предполагают наличие ступен-
чатого механизма прорастания древовидных электроразрядных каналов
                                52