Составители:
Рубрика:
152
3.7. Расчет на точность контрольного приспособления
3.7.1. Суммарная погрешность измерения и её составляющие
При расчете КИП на точность определяют его суммарную погреш-
ность измерения ε
изм
, состоящую из систематических и случайных по-
грешностей, по следующей формуле:
2
др
2
си
2
зп
2
ис
2
з
2
нбимипиуизм
ε+ε+ε+ε+ε+ε+ε+ε+ε=ε
, (3.2)
где ε
иу
– систематическая погрешность, вызванная неточностью изготов-
ления установочных элементов и неточностью их расположения на корпу-
се контрольно-измерительного приспособления при его сборке;
ε
ип
– систематическая погрешность, вызванная неточностью изго-
товления передаточных элементов, рычагов, штифтов, стержней и др.;
ε
им
– систематическая погрешность, вызванная неточностью изго-
товления установочных мер и эталонных деталей, используемых для на-
стройки средств измерения на контролируемый параметр (при их исполь-
зовании);
ε
нб
– погрешность, вызванная несовмещением измерительной базы с
технологической базой (в приспособлениях для межоперационного кон-
троля) или конструкторской базой (в приспособлениях для окончательно-
го контроля);
ε
з
– погрешность, возникающая в результате закрепления контроли-
руемого объекта, вследствие его возможной деформации (не учитывается,
если деталь жесткая, а силы закрепления небольшие или отсутствуют);
ε
ис
– погрешность, зависящая от измерительной силы, возникает в
результате смещения измерительной базы детали от заданного положения
в процессе измерения, имеет случайный характер (учитывается только для
высокоточных измерений или при контроле нежестких деталей);
ε
зп
– погрешность, возникающая по причине зазоров между осями
рычагов передаточных устройств (при их наличии);
ε
си
– погрешность используемого средства измерений;
ε
др
– другие погрешности, вызванные действием случайных факто-
ров при выполнении контроля. К ним относятся: погрешность базирова-
ния детали, погрешность из-за износа элементов приспособления и их
температурных деформаций, погрешность, связанная с квалификацией
контролера, погрешность отклонения деталей или эталонов от правильной
152
3.7. Расчет на точность контрольного приспособления
3.7.1. Суммарная погрешность измерения и её составляющие
При расчете КИП на точность определяют его суммарную погреш-
ность измерения εизм, состоящую из систематических и случайных по-
грешностей, по следующей формуле:
εизм = εиу + εип + εим + εнб
2
+ ε2з + εис
2
+ ε2зп + εси
2
+ ε2др , (3.2)
где εиу – систематическая погрешность, вызванная неточностью изготов-
ления установочных элементов и неточностью их расположения на корпу-
се контрольно-измерительного приспособления при его сборке;
εип – систематическая погрешность, вызванная неточностью изго-
товления передаточных элементов, рычагов, штифтов, стержней и др.;
εим – систематическая погрешность, вызванная неточностью изго-
товления установочных мер и эталонных деталей, используемых для на-
стройки средств измерения на контролируемый параметр (при их исполь-
зовании);
εнб – погрешность, вызванная несовмещением измерительной базы с
технологической базой (в приспособлениях для межоперационного кон-
троля) или конструкторской базой (в приспособлениях для окончательно-
го контроля);
εз – погрешность, возникающая в результате закрепления контроли-
руемого объекта, вследствие его возможной деформации (не учитывается,
если деталь жесткая, а силы закрепления небольшие или отсутствуют);
εис – погрешность, зависящая от измерительной силы, возникает в
результате смещения измерительной базы детали от заданного положения
в процессе измерения, имеет случайный характер (учитывается только для
высокоточных измерений или при контроле нежестких деталей);
εзп – погрешность, возникающая по причине зазоров между осями
рычагов передаточных устройств (при их наличии);
εси – погрешность используемого средства измерений;
εдр – другие погрешности, вызванные действием случайных факто-
ров при выполнении контроля. К ним относятся: погрешность базирова-
ния детали, погрешность из-за износа элементов приспособления и их
температурных деформаций, погрешность, связанная с квалификацией
контролера, погрешность отклонения деталей или эталонов от правильной
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 151
- 152
- 153
- 154
- 155
- …
- следующая ›
- последняя »
