Проектирование и расчет станочных и контрольно-измерительных приспособлений в курсовых и дипломных проектах. Аверьянов И.Н - 154 стр.

                                                                  153

геометрической формы (при их использовании) и др. Вклад этих погреш-
ностей по отдельности незначителен, однако в сумме они могут повлиять
на точность контроля. В учебных целях в расчетах для данной категории
погрешностей выделяют часть допуска на контролируемый параметр, так
для контрольных приспособлений можно принять εдр = (0,03 – 0,05)TК.
      Для того чтобы контрольно-измерительное приспособление было
признано годным для контроля некоторого параметра (размера, формы,
отклонения от перпендикулярности, параллельности и т. д.), необходимо,
чтобы соблюдалось следующее условие εизм ≤ [εизм ] .
      При несоблюдении данного условия следует изменить конструкцию
приспособления с целью уменьшения отдельных составляющих суммар-
ной погрешности измерения. Можно ужесточить требования к изготовле-
нию деталей и к сборке КИП, ужесточить требования к изготовлению эта-
лонов, выбрать другое средство измерений или отказаться от выбранной
схемы контроля в пользу другой. Последнее особенно актуально, если в
приспособлении измерительная база не совмещена с требуемой базой
(конструкторской или технологической).
      Если в приспособлении выполняется контроль нескольких парамет-
ров, то расчет с проверкой пригодности должен выполняться по каждому
из них.


     3.7.2. Погрешность из-за неточности установочных элементов и их
расположения на корпусе КИП при сборке
     Погрешностей взаимного расположения поверхностей, контроли-
руемых деталей составляет 0,01 – 0,03 мм. Нередко даже малые погреш-
ности изготовления установочных узлов контрольных приспособлений
имеют существенное значение, поэтому рабочие поверхности установоч-
ных узлов изготавливают с допусками 0,001 – 0,005 мм, а по расположе-
нию поверхностей выдерживают следующие требования: непараллель-
ность и неперпендикулярность не выше 0,01 мм на длине 100 мм, смеще-
ние от номинального положения не выше ± 0,003 мм (п. 3.6).
     Эти требования должны быть отмечены на компоновке КИП, а впо-
следствии на его сборочном чертеже в виде технических требований
(Приложение Л). Действительные отклонения в размерах установочных
элементов являются величинами постоянными и могут быть определены
после изготовления и аттестации контрольного приспособления.