ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
33
На центральной линии экрана, в точке O, лучи сходятся без до-
полнительной разности хода, в одинаковой фазе и при наличии N ще-
лей дают интенсивность в N
2
раз больше, чем в случае одной щели.
Лучи, идущие под углом ϕ, сходятся в точке M, пройдя различные пу-
ти и имея различные фазы колебаний, дают более сложную интерфе-
ренционную картину. Рассмотрим несколько попарно расположенных
щелей. Лучи, идущие от соответствующих точек обеих щелей (край-
них, центральных, промежуточных), имеют одинаковую разность хода
ϕ=δ sinl
(2.11)
и приходят в точку
M
со сдвигом фазы
λ
ϕ
π=ϕ∆
sin
2
l
. Резкое воз-
растание амплитуды колебаний будет в тех случаях, когда сдвиг по
фазе кратен
π
2
, что соответствует разности хода кратной чётному
числу полуволн
,
2
2sin λ=
λ
=ϕ kkl
k
,0=k
,1
±
,2
±
...,3
±
. (2.12)
Условие (2.12) характеризует положения главных максимумов
дифракционной решётки и называется формулой дифракционной ре-
шётки.
При углах
k
ϕ
, удовлетворяющих этому условию,
1
NAA =
и ин-
тенсивность дифракционной картины возрастает в
2
N
раз по сравне-
нию с дифракцией от одной щели. С увеличением
N
возрастает чёт-
кость дифракционной картины – увеличивается интенсивность и
уменьшается ширина главных максимумов, тем самым увеличивается
точность производимых измерений. Сопоставляя рис. 2.7 с рис. 2.5,
Рис. 2.7
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 31
- 32
- 33
- 34
- 35
- …
- следующая ›
- последняя »
