Материаловедение. Барышев Г.А. - 9 стр.

UptoLike

Составители: 

контур (рис. 12, а). В месте, где есть дефект, проход завершается тем, что появится в контуре незамкнутый участок (рис. 12,
б). Этот участок БА называют вектором Бюргерса (
b
r
). У краевой дислокации вектор перпендикулярен дислокации, у винто-
войпараллелен.
а) б)
Рис. 11. Схема краевой (а) и винтовой (б) дислокаций
Рис. 12. Определение вектора Бюргерса b
r
Свойства кристаллов зависят от количества дефектов, которые формируют понятие «плотность дислокаций». Плот-
ность дислокацииэто суммарная длина всех линий дислокации в одном кубическом сантиметре кристалла. Размерность
плотности ρ дислокаций:
23
см
1
см
см
=
.
Так в отожженной меди: ρ = 10
–8
1/см
2
.
После пластической деформации: ρ = 10
–12
1/см
2
.
Существует связь между свойствами металла и плотностью дефектов (рис. 13).
Различие в свойствах объясняют наличием в металлах различных дефектов точечного, линейного, поверхностного про-
исхождения.
6. МЕТОДЫ ИЗУЧЕНИЯ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СТРОЕНИЯ
(кафедральные)
1. Макроскопический анализ позволяет определять строение невооруженным глазом или с помощью лупы с увеличе-
нием 30 раз (см. лаб. работу «Методы макро- и микроанализа»). Разрешающая способность метода d = 1 мм.
2. Микроскопический анализ позволяет рассматривать строение металлов при большом увеличении до 1500 раз с по-
мощью металлографических микроскопов. Разрешающая способность микроскопа d = 0,6…1 мкм (см. лаб. работу «Методы
макро- и микроанализа»).
3. Электронные микроскопы позволяют повысить разрешающую способность, увеличение до нескольких тысяч раз
(40 000). В зависимости от напряжения в микроскопе Е = 200 кВ, разрешение d = 3 нм.
Рис. 13. Зависимость предела
прочности от плотности
дефектов