ВУЗ:
Составители:
Как показано на рис. 1.3, исследуемый участок рефлектограммы между выбранными точ-
ками (х
1
, у
1
) и (х
n
,
у
n
) разбивается на (n-1) интервалов и по рефлектограмме определяются зна-
чения (х
i
, у
i
) для каждой границы интервалов (x
1
, y
1
), (x
2
, y
2
), …, (х
n
, у
n
). Параметры аппрокси-
мации а, b получают из условий минимума значения суммы S квадратов отклонений Δ
i
теоре-
тической и экспериментальной кривой
∑
=
Δ=
n
i
iS
1
2
или
()
(
)
(
)
22
22
2
11
...
nn
bxaybxaybxayS −−+−−+−−=
путем решения системы уравнений
⎪
⎪
⎩
⎪
⎪
⎨
⎧
=
∂
∂
=
∂
∂
0
0
b
S
a
S
которая описывает условия минимума величины S. Решение данной системы уравнений запи-
сывается в виде
() ()
()
()
∑
∑∑
=
==
−
−
=
n
i
i
n
i
n
i
iii
xnx
yxxxy
а
1
22
11
2
(1.2)
()
() ()
∑
∑
=
=
−
⋅−
=
n
i
i
n
i
xnx
yxnyx
b
1
22
1
11
где
()
∑
=
=
n
i
i
x
n
x
1
1
;
()
∑
=
=
n
i
y
n
y
1
1
1
;
Как правило, в оптических рефлектометрах имеется возможность выбора способа опре-
деления параметров линейной аппроксимации в зависимости от вида рефлектограмм и изме-
ряемой характеристики волокна.
Как показано на рис. 1.3, исследуемый участок рефлектограммы между выбранными точ-
ками (х1, у1) и (хn, уn) разбивается на (n-1) интервалов и по рефлектограмме определяются зна-
чения (хi, уi) для каждой границы интервалов (x1, y1), (x2, y2), …, (хn, уn). Параметры аппрокси-
мации а, b получают из условий минимума значения суммы S квадратов отклонений Δi теоре-
тической и экспериментальной кривой
n
S = ∑ Δi 2
i =1
или
S = ( y1 − a − bx1 ) + ( y2 − a − bx2 ) + ...( yn − a − bxn )
2 2 2
путем решения системы уравнений
⎧ ∂S
⎪⎪ ∂a = 0
⎨
⎪ ∂S = 0
⎪⎩ ∂b
которая описывает условия минимума величины S. Решение данной системы уравнений запи-
сывается в виде
n n
y ∑ ( xi ) − x ∑ ( xi yi )
2
а= i =1
n
i =1
(1.2)
∑ (x ) − n( x )
2 2
i
i =1
n
∑ (x y ) − nx ⋅ y
1 1
b= i =1
n
∑ (x )
i =1
i
2
− n( x )
2
где
1 n
∑ ( xi ) ;
x=
n i =1
1 n
y = ∑ ( y1 ) ;
n i =1
Как правило, в оптических рефлектометрах имеется возможность выбора способа опре-
деления параметров линейной аппроксимации в зависимости от вида рефлектограмм и изме-
ряемой характеристики волокна.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- …
- следующая ›
- последняя »
