ВУЗ:
Составители:
5
Рис. 2. Структура  
поликристалла  
однофазного сплава 
Рис. 3. Схема микроскопа 
на отражение: 
1 – источник света;  
2 – конденсор;  
3 – полупро
зрачное зеркало; 
4 – объектив; 5 – объект; 
6 – окуляр 
структуры  металла.  Для  выявления  структуры  шлиф  подвергают  дейст-
вию специального реактива – травителя, состав которого зависит от изу-
чаемого  материала  и  цели  металлографического  исследования.  Обычно 
травители – растворы кислот, щелочей или солей. В процессе травления 
скорость и характер растворения разных зерен шлифа будет разной из-за 
анизотропии,  так  как  они  выходят  на  поверхность  шлифа  разными  на-
правлениями. 
Границы зерен  – это  дефект кристалла,  где  атомы более  активны  и 
легче  растворяются.  Поэтому  на  границах  зерен  в  поликристалле  шлиф 
будет растравливаться сильнее (рис. 1, в). 
При освещении травленой поверхности лучи света будут по-разному 
отражаться от ее рельефа. Поэтому при наблюдении шлифа в отраженных 
лучах  мы  увидим  светлые  и  темные  зерна, 
отделенные друг от друга темными полоска-
ми границ (рис. 2). 
Чаще  всего  размер  зерен  в  современ- 
ных  металлах  и  сплавах  не  превышает 
10…100  мкм  (0,01…0,10  мм).  Это  гораздо 
меньше  разрешающей  способности  челове-
ческого глаза (0,3 мм).  Поэтому металлогра-
фический  анализ  обычно  проводят  с  помо-
щью оптического микроскопа, схема которо-
го представлена на рис. 3. 
Свет  от  лампы  1  попадает  в  конден- 
сор  2,  формирующий  яркий  равномерный 
пучок,  который  затем  отражается  от  полу- 
прозрачного  зеркала  3,  проходит  через  объ-
ектив 4  и  фокусируется  на  объекте  5.  Полу-
ченное  изображение  поверхности  (в  отра-
женных  лучах)  увеличивается  объективом, 
проходит  через  полупрозрачное  зеркало  и 
попадает  в  окуляр  6.  Окуляр  дополнительно 
увеличивает изображение и проецирует его в 
глаз оператора. 
Увеличение  микроскопа  можно  опреде-
лить по формуле 
окобм
MMM ×=
, где М
об
 и 
М
ок
 – увеличение объектива и окуляра. 
Для  получения  изображения  необходи-
мо установить изучаемый шлиф на  предмет-
ный стол  микроскопа  полированной  поверх-
ностью в сторону объектива. Включить мик-
роскоп  тумблером  на  блоке  питания.  По-
смотреть в окуляр микроскопа и, вращая ру-
5
4
3
6
1
2
Страницы
- « первая
 - ‹ предыдущая
 - …
 - 3
 - 4
 - 5
 - 6
 - 7
 - …
 - следующая ›
 - последняя »
 
