Физическая оптика. Бугрова А.И - 34 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

33
Если для опти-
ческой толщины пле-
нок выполняется ус-
ловие d
1
n
1
=d
2
n
2
=λ
0
/2
(рис.2.14б), то легко
видеть, что отражен-
ные от границ раздела
слоев световые волны
будут в противофазе
и, следовательно, ос-
лаблять друг друга.
При достаточно
большом количестве
слоев коэффициент
отражения для света с
длиной волны будет равен практически нулю (коэффициент про-
пускания близок к единице), а для света с другими длинами волн
коэффициент отражения близок к 100%. В этом случае имеем уз-
кополосный интерференционный светофильтр для света с длиной
волны λ
0
.
n
0
n
1
n
2
Рис.2. 41 .
Рис.2.14:
а)интерференционное зеркало
n
1
>n
2
>n
0
, n
1
d
1
=n
2
d
2
=λ/4
б)интерференционный светофильтр
n
1
>n
2
>n
0
,
n
1
d
1
=n
2
d
2
=
λ
/2
Контроль формы поверхности различных плоских деталей в
простейших случаях может быть осуществлен с помощью так на-
зываемых мерных пластин. Мерная пластина представляет из се-
бя стеклянный диск с высококачественной поверхностью. Про-
цесс измерения заключается в наложении пластины на контроли-
руемую деталь, при этом между поверхностью детали и пласти-
ной образуется воздушный зазор, толщина которого зависит от
качества исследуемой поверхности. При освещении пластины
монохроматическим светом наблюдаются интерференционные
полосы равной толщины, форма которых зависит от конфигура-
ции неровностей поверхности, а расстояние между полосами – от
их высоты (см. рис. 2.15). 
                               33

                                                Если для опти-
                                           ческой толщины пле-
                                           нок выполняется ус-
                                           ловие d1n1=d2n2=λ0/2
                                    n0     (рис.2.14б), то легко
                                           видеть, что отражен-
                                           ные от границ раздела
                  n1     n2                слоев световые волны
                                           будут в противофазе
                 Рис.2.14:
                                           и, следовательно, ос-
       а)интерференционное зеркало
                       Рис.2.14.
          n1>n2>n0, n1d1=n2d2=λ/4
                                           лаблять друг друга.
                                           При        достаточно
    б)интерференционный светофильтр        большом количестве
          n1>n2>n0, n1d1=n2d2=λ/2          слоев коэффициент
                                           отражения для света с
длиной волны будет равен практически нулю (коэффициент про-
пускания близок к единице), а для света с другими длинами волн
коэффициент отражения близок к 100%. В этом случае имеем уз-
кополосный интерференционный светофильтр для света с длиной
волны λ0.
     Контроль формы поверхности различных плоских деталей в
простейших случаях может быть осуществлен с помощью так на-
зываемых мерных пластин. Мерная пластина представляет из се-
бя стеклянный диск с высококачественной поверхностью. Про-
цесс измерения заключается в наложении пластины на контроли-
руемую деталь, при этом между поверхностью детали и пласти-
ной образуется воздушный зазор, толщина которого зависит от
качества исследуемой поверхности. При освещении пластины
монохроматическим светом наблюдаются интерференционные
полосы равной толщины, форма которых зависит от конфигура-
ции неровностей поверхности, а расстояние между полосами – от
их высоты (см. рис. 2.15).

Страницы