ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
численных методов и известных ошибок. Выбором длины разрядной сетки
требуется обеспечить выполнение ошибки вычислений, меньшей и равной
допустимой при наименьшем количестве разрядов.
Для более точной оценки ошибок выработки управляющих воздействий y
i
,
целесообразно использование методов статистического моделирования
путем многократного решения задач при различных наборах входных
переменных. Для реализации статистического моделирования при
проектировании ЭВМ на основе микропроцессоров широко применяют
аппаратурно-программные средства, к которым относятся оценочные
модули, аппаратурно-программные отладочные комплексы.
Оценочные модули представляют собой одноплатные микроЭВМ с
минимальным набором технических средств и программой-монитором,
размещенной в ПЗУ. С учетом небольшого объема памяти (256 байт —
2кбайт) они позволяют оценить ошибки вычисления по наиболее
критическому параметру УСО. Для более полной оценки (а практически
точного расчета по согласованным с потребителями тестам) ошибок
выработки параметров и окончательного выбора разрядности микроЭВМ
нужны аппаратурно-программные отладочные комплексы, которые имеют
внутрисхемную эмуляцию отлаживаемых программ, компиляторы с языков
высокого уровня и большой набор устройств ввода-вывода.
Основное достоинство применения отладочных средств — высокая
достоверность результатов, снижение трудоемкости, одновременная отладка
технических средств и программного обеспечения микроЭВМ. Кроме того,
использование секционированных микропроцессорных комплектов
допускает оценку длины разрядной сетки микроЭВМ с точностью до п, где п
— разрядность одной секции. Для большинства секционных
микропроцессорных комплектов n=2, 4, 8, 16 (серии К589, К584, К588).
Микропроцессоры с фиксированной разрядностью, не наращиваемые
аппаратурно (например, микропроцессоры серий К1821), требуют оценки
кратности разрядности обрабатываемых слов («удвоенная», «утроенная», n-
кратная). При этом наиболее критичными становятся вопросы временных
численных методов и известных ошибок. Выбором длины разрядной сетки требуется обеспечить выполнение ошибки вычислений, меньшей и равной допустимой при наименьшем количестве разрядов. Для более точной оценки ошибок выработки управляющих воздействий yi, целесообразно использование методов статистического моделирования путем многократного решения задач при различных наборах входных переменных. Для реализации статистического моделирования при проектировании ЭВМ на основе микропроцессоров широко применяют аппаратурно-программные средства, к которым относятся оценочные модули, аппаратурно-программные отладочные комплексы. Оценочные модули представляют собой одноплатные микроЭВМ с минимальным набором технических средств и программой-монитором, размещенной в ПЗУ. С учетом небольшого объема памяти (256 байт — 2кбайт) они позволяют оценить ошибки вычисления по наиболее критическому параметру УСО. Для более полной оценки (а практически точного расчета по согласованным с потребителями тестам) ошибок выработки параметров и окончательного выбора разрядности микроЭВМ нужны аппаратурно-программные отладочные комплексы, которые имеют внутрисхемную эмуляцию отлаживаемых программ, компиляторы с языков высокого уровня и большой набор устройств ввода-вывода. Основное достоинство применения отладочных средств — высокая достоверность результатов, снижение трудоемкости, одновременная отладка технических средств и программного обеспечения микроЭВМ. Кроме того, использование секционированных микропроцессорных комплектов допускает оценку длины разрядной сетки микроЭВМ с точностью до п, где п — разрядность одной секции. Для большинства секционных микропроцессорных комплектов n=2, 4, 8, 16 (серии К589, К584, К588). Микропроцессоры с фиксированной разрядностью, не наращиваемые аппаратурно (например, микропроцессоры серий К1821), требуют оценки кратности разрядности обрабатываемых слов («удвоенная», «утроенная», n- кратная). При этом наиболее критичными становятся вопросы временных
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 250
- 251
- 252
- 253
- 254
- …
- следующая ›
- последняя »