Элементы и узлы информационных и управляющих систем (Основы теории и синтеза). Булатов В.Н. - 57 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

5 Оценка погрешностей синтезируемых ИУВС
5.1 Критерии оценки погрешностей измерительной части ИУВС
В результате измерения неизвестной входной величины х получается ее
приближенное значение х* с погрешностью ε как результат измерений. Под
погрешностью понимается степень близости результата измерения к
истинному значению измеряемой величины.
Погрешность измерения ε вызывается:
- неточностью изготовления аппаратуры;
- изменением ее характеристик во времени;
- чувствительностью к неконтролируемым внешним мешающим
воздействиям у;
- неточностью методов измерения и преобразования.
В соответствии со сказанным можно различать аппаратурную и
методическую составляющие общей погрешности. Так как факторы,
вызывающие появление погрешности измерения, вообще говоря, имеют
случайный характер, то и погрешность измерения следует рассматривать как
случайную величину.
Наиболее полной характеристикой погрешности ε вследствие возможности
ее статистической связи с измеряемой величиной х является условная
плотность распределения вероятностей f(ε,x), которая теряет условный
характер и имеет вид f(ε) при отсутствии такой связи. Плотность
распределения вероятностей содержит всю необходимую информацию для
оценки погрешности, однако она не всегда известна. Поэтому на практике
используется некоторое количество параметров (показателей) этого
распределения так, чтобы эти параметры в достаточной мере
характеризовали погрешность исследуемой системы. В качестве оценок
погрешности отдельных устройств и измерительных систем наиболее
               5 Оценка погрешностей синтезируемых ИУВС



      5.1 Критерии оценки погрешностей измерительной части ИУВС


  В результате измерения неизвестной входной величины х получается ее
приближенное значение х* с погрешностью ε как результат измерений. Под
погрешностью понимается степень близости результата измерения к
истинному значению измеряемой величины.
  Погрешность измерения ε вызывается:
  - неточностью изготовления аппаратуры;
  - изменением ее характеристик во времени;
  -    чувствительностью    к    неконтролируемым       внешним   мешающим
воздействиям у;
  - неточностью методов измерения и преобразования.
  В соответствии со сказанным можно различать аппаратурную и
методическую составляющие общей погрешности. Так как факторы,
вызывающие появление погрешности измерения, вообще говоря, имеют
случайный характер, то и погрешность измерения следует рассматривать как
случайную величину.
  Наиболее полной характеристикой погрешности ε вследствие возможности
ее статистической связи с измеряемой величиной х является условная
плотность распределения вероятностей f(ε,x), которая теряет условный
характер и имеет вид f(ε) при отсутствии такой связи. Плотность
распределения вероятностей содержит всю необходимую информацию для
оценки погрешности, однако она не всегда известна. Поэтому на практике
используется    некоторое   количество     параметров    (показателей)   этого
распределения     так,   чтобы    эти    параметры   в    достаточной    мере
характеризовали погрешность исследуемой системы. В качестве оценок
погрешности отдельных устройств и измерительных систем наиболее