Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование. Булыгина Е.В - 54 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МГТУ им. Баумана | Москва

Составители: 

Рубрика: 

6
В настоящее время наиболее используемый метод поддержания расстояния зонд-образец
основывается на измерении поперечно-силового взаимодействия ближнепольного зонда и
образца. Использование основанной на поперечно-силовом взаимодействии системы измерений
позволяет проводить определение рельефа поверхности образца. Она же наряду с поперечно-
силовой микроскопией позволяет проводить ближнепольные измерения с использованием
Метода Пропускания для прозрачных образцов, Метода Отражения для непрозрачных образцов
и Люминесцентного Метода для дополнительной характеризации образцов.
Таким образом, сканирующая зондовая микроскопия является одним из наиболее
эффективных и информативных средств изучения поверхностей наноструктур, особенно
учитывая имеющееся разнообразие подходов и методик, что будет практически исследовано
студентами при выполнении заданий данного лабораторного практикума.
Краткое описание используемого оборудования
В настоящее время СЗМ используется в большом многообразии дисциплин, как в
фундаментальных научных исследованиях, так и прикладных высокотехнологичных
разработках. Многие научно-исследовательские институты страны оснащаются
аппаратурой для зондовой микроскопии. В связи с этим постоянно растет спрос на
высококлассных специалистов. Для его удовлетворения фирмой НТ-МДТ (г. Зеленоград,
Россия) разработана и создана специализированная учебно-научная лаборатория
сканирующей зондовой микроскопии NanoEducator.
Рис.6.18. Схема организации обратной связи зондового микроскопа.
СЗМ NanoEducator специально разработан для проведения лабораторных работ
студентов. Линейка приборов СЗМ NanoEducator ориентированы на студенческую
аудиторию: они полностью управляются с помощью компьютера, имеет простой и
наглядный интерфейс, анимационную поддержку, предполагают поэтапное освоение
методик, отсутствие сложных настроек и недорогие расходные материалы.
Принцип работы туннельной микроскопии заключается в следующем - при сближении зонда
и поверхности объекта на расстояние L = 0,5 нм (когда волновые функции электронов
ближайших друг к другу атомов зонда и объекта перекроются) и приложении разности
потенциалов U = 0,1…1В, между зондом и объектом возникает ток, обусловленный
FDVneI
T
⋅
⋅
⋅⋅≈
     В настоящее время наиболее используемый метод поддержания расстояния зонд-образец
основывается на измерении поперечно-силового взаимодействия ближнепольного зонда и
образца. Использование основанной на поперечно-силовом взаимодействии системы измерений
позволяет проводить определение рельефа поверхности образца. Она же наряду с поперечно-
силовой микроскопией позволяет проводить ближнепольные измерения с использованием
Метода Пропускания для прозрачных образцов, Метода Отражения для непрозрачных образцов
и Люминесцентного Метода для дополнительной характеризации образцов.
     Таким образом, сканирующая зондовая микроскопия является одним из наиболее
эффективных и информативных средств изучения поверхностей наноструктур, особенно
учитывая имеющееся разнообразие подходов и методик, что будет практически исследовано
студентами при выполнении заданий данного лабораторного практикума.

                     Краткое описание используемого оборудования

     В настоящее время СЗМ используется в большом многообразии дисциплин, как в
фундаментальных научных исследованиях, так и прикладных высокотехнологичных
разработках. Многие научно-исследовательские институты страны оснащаются
аппаратурой для зондовой микроскопии. В связи с этим постоянно растет спрос на
высококлассных специалистов. Для его удовлетворения фирмой НТ-МДТ (г. Зеленоград,
Россия) разработана и создана специализированная учебно-научная лаборатория
сканирующей зондовой микроскопии NanoEducator.




            Рис.6.18. Схема организации обратной связи зондового микроскопа.

     СЗМ NanoEducator специально разработан для проведения лабораторных работ
студентов. Линейка приборов СЗМ NanoEducator ориентированы на студенческую
аудиторию: они полностью управляются с помощью компьютера, имеет простой и
наглядный интерфейс, анимационную поддержку, предполагают поэтапное освоение
методик, отсутствие сложных настроек и недорогие расходные материалы.
  Принцип работы туннельной микроскопии заключается в следующем - при сближении зонда
  и поверхности объекта на расстояние L = 0,5 нм (когда волновые функции электронов
  ближайших друг к другу атомов зонда и объекта перекроются) и приложении разности
  потенциалов U = 0,1…1В, между зондом и объектом возникает ток, обусловленный

                         IT ≈ e ⋅ n ⋅ V ⋅ D ⋅ F

                                                                                    6

Страницы