Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование. Булыгина Е.В - 87 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МГТУ им. Баумана | Москва

Составители: 

Рубрика: 

9
51. P.W.Anderson // Phys. Rev. 1958. V.109. № 5. P.1492−1505.
52. N.F.Mott // Adv.Phys. 1967. V. 16. №.61. P.49−144, and N.F.Mott // Philos.Mag. 1968.
V. 17. №. 150. P.1259−1268.
53. В.П.Быков // Квантовая электроника. 1974. Т. 1. № 7. C.1557−1577.
54. E.Yablonovitch // Phys. Rev. Lett. 1987. V. 58. № 20. P.2059−2062.
55. S.John // Phys. Rev. Lett. 1987. V. 58. № 23. P.2486−2489.
56. H.Miyazaki, K.Ohtaka // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. № 11. P.6920−6937.
57. В.Г. Голубев. Трехмерно-упорядоченные композиты опал–полупроводник:
получение, структурные и фотонные свойства //
http://link.edu.ioffe.ru/winter/2002/main/golubev.
58. Нанотехнологии и фотонные кристаллы: Материалы 1-го Международного
семинара / Под ред. д.т.н. А.Ф.Белянина и д.ф-м.н. М.И.Самойловича.- Йошкар-
Ола: МарГТУ, 2003.-180 с.
59. Машиностроение. Энциклопедия / Ред. совет: К.В.Фролов (председатель) и др. –
М.: Машиностроение. Технологии, оборудование и системы управления в
электронном машиностроении. Т.III-8 / Ю.В.Панфилов, Л.К.Ковалев, В.Г.Блохин и
др.; Под общ. ред. Ю.В.Панфилова. 2000. 744 с.
60. Judith E. G. J. Wijnhoven, Stephan J. M. Zevenhuizen, Michel A. Hendriks, Danie»l
Vanmaekelbergh, John J. Kelly and Willem L. Vos. Electrochemical Assembly of
Ordered Macropores in Gold // Adv. Materials, 2000, 12, No. 12. – p. 888 – 900
61. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. – Нижний Новгород:
РАН ИФМ, 2004 – 114 с.
62. С.А.Рыков.Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов
и наноструктур. СПб: Наука, 2001.
63. J.A.Kubby, J.J.Boland. Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces.
Surface Science Reports, 26, 61 (1996).
64. B. Cappella, G. Dietler. Force-distance curves by atomic force microscopy. Surface
Science Reports 34, 1 (1999)
65. J. W.P. Hsu. Near-field scanning optical microscopy studies of electronic and photonic
materials and devices. Materials Science and Engineering Reports, 33, 1 (2001).
66. T.Sakurai. Advances in scanning probe microscopy. Springer-Verlag, 2000.
67. M.A.Paesler, P.J.Moyer. Near-Field Optics: Theory, Instrumentation and Applications.
Wiley, 1996.
68. СЗМ методики – материалы сайта ru.ntmdt.ru - http://ru.ntmdt.ru/SPM-Techniques/
69. Р.З.Бахтизин. Сканирующая туннельная микроскопия - новый метод изучения
поверхности твердых тел. Соросовский образовательный журнал, 2000, т.6, №11
С. 1- 
51.   P.W.Anderson // Phys. Rev. 1958. V.109. № 5. P.1492−1505.
52.   N.F.Mott // Adv.Phys. 1967. V. 16. №.61. P.49−144, and N.F.Mott // Philos.Mag. 1968.
      V. 17. №. 150. P.1259−1268.
53.   В.П.Быков // Квантовая электроника. 1974. Т. 1. № 7. C.1557−1577.
54.   E.Yablonovitch // Phys. Rev. Lett. 1987. V. 58. № 20. P.2059−2062.
55.   S.John // Phys. Rev. Lett. 1987. V. 58. № 23. P.2486−2489.
56.   H.Miyazaki, K.Ohtaka // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. № 11. P.6920−6937.
57.   В.Г. Голубев. Трехмерно-упорядоченные композиты опал–полупроводник:
      получение,          структурные           и        фотонные        свойства       //
      http://link.edu.ioffe.ru/winter/2002/main/golubev.
58.   Нанотехнологии и фотонные кристаллы: Материалы 1-го Международного
      семинара / Под ред. д.т.н. А.Ф.Белянина и д.ф-м.н. М.И.Самойловича.- Йошкар-
      Ола: МарГТУ, 2003.-180 с.
59.   Машиностроение. Энциклопедия / Ред. совет: К.В.Фролов (председатель) и др. –
      М.: Машиностроение. Технологии, оборудование и системы управления в
      электронном машиностроении. Т.III-8 / Ю.В.Панфилов, Л.К.Ковалев, В.Г.Блохин и
      др.; Под общ. ред. Ю.В.Панфилова. 2000. 744 с.
60.   Judith E. G. J. Wijnhoven, Stephan J. M. Zevenhuizen, Michel A. Hendriks, Danie»l
      Vanmaekelbergh, John J. Kelly and Willem L. Vos. Electrochemical Assembly of
      Ordered Macropores in Gold // Adv. Materials, 2000, 12, No. 12. – p. 888 – 900
61.   Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. – Нижний Новгород:
      РАН ИФМ, 2004 – 114 с.
62.   С.А.Рыков.Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов
      и наноструктур. СПб: Наука, 2001.
63.   J.A.Kubby, J.J.Boland. Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces.
      Surface Science Reports, 26, 61 (1996).
64.   B. Cappella, G. Dietler. Force-distance curves by atomic force microscopy. Surface
      Science Reports 34, 1 (1999)
65.   J. W.P. Hsu. Near-field scanning optical microscopy studies of electronic and photonic
      materials and devices. Materials Science and Engineering Reports, 33, 1 (2001).
66.   T.Sakurai. Advances in scanning probe microscopy. Springer-Verlag, 2000.
67.   M.A.Paesler, P.J.Moyer. Near-Field Optics: Theory, Instrumentation and Applications.
      Wiley, 1996.
68.   СЗМ методики – материалы сайта ru.ntmdt.ru - http://ru.ntmdt.ru/SPM-Techniques/
69.   Р.З.Бахтизин. Сканирующая туннельная микроскопия - новый метод изучения
      поверхности твердых тел. Соросовский образовательный журнал, 2000, т.6, №11
      С. 1-




                                                                                         9

Страницы