Составители:
47
где n(t
x
) – число устройств, пришедших в неисправность в процессе
хранения; N – общее число однотипных устройств, находящихся на хра-
нении с момента t
x
= 0.
Соответствующая плотность распределения времени безотказного
хранения и интенсивность появления отказов при хранении будет
xxxx
() d ()/d,ft n t Nt
=
xxxxx
() d ()/ ()d ,tntNtt
µ
=
(64)
где n
x
(t
x
) – число неисправных устройств на интервале времени d t
x
времени хранения. При этом среднее время исправного состояния при
хранении будет
xx
1
,
N
i
i
TtN
=
=
∑
(65)
где t
xi
– время появления неисправности i-го устройства при хранении.
Опыт эксплуатации АТ показывает, что вероятность безотказной рабо-
ты устройств, предварительно подвергавшихся длительному хранению,
всегда ниже, чем в случае, когда она поступала на эксплуатацию, не
подвергаясь предварительному хранению.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 45
- 46
- 47
- 48
- 49
- …
- следующая ›
- последняя »
