Моделирование электронных схем - 25 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

а – управляемое состояние процесса; б – неуправляемое состояние процесса
Контрольные карты для количественных данных:
− карты среднего (X) и размахов (R) или выборочных стандартных
отклонений (s);
− карта индивидуальных значений (Х) и скользящих размахов (R);
− карта медиан (Me) и размахов (R).
Контрольные карты для альтернативных данных:
− карта долей несоответствующих единиц продукции (р) или карта числа
несоответствующих единиц (пр);
− карта числа несоответствий (с) или карта числа несоответствий,
приходящихся на единицу продукции (и).
Наиболее часто в серийном и массовом производствах при регулировании
технологического процесса (ТП) изготовления продукции при распределении
показателей качества по закону Гаусса или Максвелла используют пару Х- и R-
карту. В табл. 15 приведены формулы для расчёта контрольных границ и
коэффициенты соответственно для Х- и R-карт.
Контрольная карта составляется в следующем порядке:
1. Выполняют измерения 20 – 25 последовательно изготавливаемых групп
изделий, т.е. выборок, по 4–5 изделий в группе (всего не менее 100).
15. Формулы для расчёта границ контрольных карт с использованием
количественных данных
Стандартные значения
не заданы
Стандартные значения
заданы
*
Статистика
Центральная
линия CL
LCL и UCL
Центральная
линия CL
LCL и UCL
X
X
RAX
2
±
или
sAX
3
±
0
X
или µ
010
σ±
AX
R
R
RD
3
,
RD
4
R
0
или
02
σ
d
01
σ
D
,
02
σ
D
s
s
sB
3
,
sB
4
s
0
или
04
σ
C
05
σ
B
,
06
σ
B
* – заданы стандартные значения Х
0
или µ, R
0
, s
0
или σ
0
.
2. Для каждой группы рассчитывают среднее арифметическое
X
и размах R
mxX
∑
=
, (22)
где т – число замеров в группе;
∑
x
– суммарное значение результатов группы.
(
)
2
minmax
xxR
−=
, (23)
где x
min
, х
min
– наименьшее и наибольшее значение результатов измерений в группе.

Страницы