Триботехническое материаловедение и триботехнология. Денисова Н.Е - 131 стр.

  а)            а – во вторичных электронных лучах (SEI);      б)
                б – в рентгеновском излучении (х-Ray Cu)

             Рисунок 4.6 – Исследование поверхности шарика

    На рисунке 4.7, а,б показаны результаты исследования беговой
дорожки внутреннего кольца, на которых явно просматриваются участки
сплошного медного покрытия. Исследования на электронном микроскопе
JSM35C фирмы JEOL (Япония) дают возможность провести
сравнительный анализ количественной оценки медного слоя по импульсам
излучения при заданном токе катода за равные промежутки времени.
Сравнения проводились на образцах дорожек опоры ротора. Результаты
приведены в таблице 4.2.
    Исследования на присутствие меди в рентгеновских лучах х-Ray Cu
проводились с элементарной площадки ds, которую в приближении можно
принять за точку, исходя из методики исследования. Строка 2а
соответствует информации с участка явно обогащенного медью, величина
импульса ≈73⋅103, чистая медь имеет 80⋅103 импульса. Резкий скачок
импульса вниз (строка 2б) 550...634 может быть вызван тем, что
информация идет с элементарной площадки, которая может оказаться
между двумя светящимися точками, хотя визуально вся поверхность
равномерно покрыта медной пленкой.