ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Цель работы.
В работе изучается дифракция лазерного света на сетках с различными
размерами ячеек. Определяются параметры сетки по дифракционной картинке и
при прямом измерении. Проверяются основные соотношения (2).
Принадлежности. Полупроводниковый лазер с длиной волны 670 нм,
направляющая, набор рейтеров, объект - две сетки с различным размером ячеек,
голографическая дифракционная решетка 50 штрихов на мм, линза, экран для
наблюдения с магнитами для крепления бумаги, карандаш, линейка.
Методика проведения. Для наблюдения дифракции Фраунгофера
используется установка, схема которой дана на рис.4. Световые параллельные
лучи полупроводникового лазера освещают объект - сетку Об и испытывают на
ней дифракцию. Картина наблюдается на экране Э. Размер l между объектом и
экраном выбирается так, чтобы выполнялось условие P>>1, (Sin θ ≈ θ).
Схема рис.4 собирается на направляющей рис.5.
Измеряя положение дифракционных максимумов и расстояние l можно
определить размер ячейки сетки и сравнить его со значениями полученными
при непосредственном измерении размера щели
Задание
1. Соберите схему согласно рис.4. Для этого лазер в оправе и на рейтере
ставится в положение 7 направляющей (см.рис.5), кассета с объектом в
оправе и на рейтере ставится в крайнее положение паза 6, ближайшее к
лазеру. Экран наблюдения Э, помещается на рейтере в положение 1. На
экране закрепляется лист бумаги для зарисовки дифракционной картины.
Карандашом отмечается положение максимумов Затем бумага
сдвигается и картинка отмечается снова. После нескольких
передвижений бумага снимается, делаются измерения линейкой,
определяется ошибка, производятся расчеты
2 В кассету помещается дифракционная решетка, имеющая 50 штрихов на
1 мм, (т.е d=0,002 см). Определяются положения максимумов.
Измеряется расстояние l. По формуле (2) определяется длина волны
излучения лазера.
3. В кассету помещаются поочередно сетки с различными размерами ячеек.
Измерьте Х
т
для каждой из сеток Изобразите полученные результаты на
Цель работы.
В работе изучается дифракция лазерного света на сетках с различными
размерами ячеек. Определяются параметры сетки по дифракционной картинке и
при прямом измерении. Проверяются основные соотношения (2).
Принадлежности. Полупроводниковый лазер с длиной волны 670 нм,
направляющая, набор рейтеров, объект - две сетки с различным размером ячеек,
голографическая дифракционная решетка 50 штрихов на мм, линза, экран для
наблюдения с магнитами для крепления бумаги, карандаш, линейка.
Методика проведения. Для наблюдения дифракции Фраунгофера
используется установка, схема которой дана на рис.4. Световые параллельные
лучи полупроводникового лазера освещают объект - сетку Об и испытывают на
ней дифракцию. Картина наблюдается на экране Э. Размер l между объектом и
экраном выбирается так, чтобы выполнялось условие P>>1, (Sin θ ≈ θ).
Схема рис.4 собирается на направляющей рис.5.
Измеряя положение дифракционных максимумов и расстояние l можно
определить размер ячейки сетки и сравнить его со значениями полученными
при непосредственном измерении размера щели
Задание
1. Соберите схему согласно рис.4. Для этого лазер в оправе и на рейтере
ставится в положение 7 направляющей (см.рис.5), кассета с объектом в
оправе и на рейтере ставится в крайнее положение паза 6, ближайшее к
лазеру. Экран наблюдения Э, помещается на рейтере в положение 1. На
экране закрепляется лист бумаги для зарисовки дифракционной картины.
Карандашом отмечается положение максимумов Затем бумага
сдвигается и картинка отмечается снова. После нескольких
передвижений бумага снимается, делаются измерения линейкой,
определяется ошибка, производятся расчеты
2 В кассету помещается дифракционная решетка, имеющая 50 штрихов на
1 мм, (т.е d=0,002 см). Определяются положения максимумов.
Измеряется расстояние l. По формуле (2) определяется длина волны
излучения лазера.
3. В кассету помещаются поочередно сетки с различными размерами ячеек.
Измерьте Хт для каждой из сеток Изобразите полученные результаты на
