Дислокационные механизмы разрушения двойникующихся материалов. Федоров В.А - 127 стр.

UptoLike

Рис. 9.6. Схема установка для определения напряжений методом тонких
фотоупругих покрытий
а) б)
Рис. 9.7. Деформационная двойниковая розетка с фотоупругим покрытием:
апосле взрыва ВВ; бпосле разрушения. Двойники, имеющие напряжения
сжатия погасли, а интенсивность двойников с растягивающими напряжениями
возросла. 400 мкм
На рис. 9.7 приведена фотоупругая картина деформированного образца.
9.3.3. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВЕЛИЧИНЫ НАПРЯЖЕНИЙ
Напряжение определяли следующим образом [230]:
),(2
21
σ
σ
=
δ
σ
tC
где δлинейная разность хода; С
σ
оптическая постоянная материала покрытия; 2tдвойная толщина
покрытия (в опытах толщина покрытия достигала 10…15 мкм); (σ
1
σ
2
) – разность главных напряже-
ний.
Связь между разностью фаз φ и δ можно представить в виде
,
2
δ
λ
π
=ϕ
где λдлина волны. Величина φ находилась из выражения
,
2
sin2sin
22
01
ϕ
α= II
где I
0
максимальное возможное просветление (при параллельных поляроидах); I
1
интенсивность
просветления в покрытии при действии механических напряжений (поляроиды скрещены); αугол
между плоскостью поляризации и направлением одного из главных напряжений (в нашем случае α =
45°).
Угол α находили следующим образом. Замеряя дважды интенсивность света одним фотоэлементом
при первом положении плоскости поляризации α и при втором (α + β), где βизвестный дополнитель-
ный угол, получали систему уравнений:
3
8
7
6
5
4
2
1