ВУЗ:
Составители:
где k = 1,38·10-23 Дж·К-1 – постоянная Больцмана; T – температура, К; pp0,
pn0 – концентрации дырок в p и n слоях, м-3; nn0, np0 – концентрации элек-
тронов в n и p слоях, м-3; ρi, ρn, ρp – удельные сопротивления соответствен-
но собственного полупроводника n и p слоев, Ом·м; b = μn/μp – отношение
подвижностей электронов и дырок.
Высота потенциального барьера при прямом смещении p-n перехода
уменьшается
Vк = Vк 0 − U , В, (4.32)
при обратном смещении увеличивается
Vк = Vк 0 + U , В, (4.33)
где U – приложенное напряжение между p и n слоями, В.
Вольтамперная характеристика идеального p-n-перехода имеет вид
⎛ ⎛ eV ⎞ ⎞
I = I 0 ⎜ exp⎜ к ⎟ − 1⎟ , А, (4.34)
⎝ ⎝ kT ⎠ ⎠
где I0 – тепловой ток (ток насыщения), А,
⎛ eD p pn0 eDn n p 0 ⎞
I0 = ⎜ + ⎟S , (4.35)
⎜ Lp L ⎟
⎝ n ⎠
где Dp, Dn – коэффициенты диффузии дырок и электронов, м2·с-1; pn0, np0 –
равновесные концентрации дырок и электронов в n и p слоях, м-3; S – пло-
щадь перехода, м2; Lp, Ln – диффузионные длины дырок и электронов, м,
L p ( n) = D p (n) τ p ( n) , (4.36)
где τp, τn – время жизни дырок и электронов соответственно, с.
Барьерная емкость p-n перехода
εε 0 S Vк 0
СБ = , Ф, (4.37)
l0 Vк 0 − U
где ε0 = 8,85·10-12 Ф·м-1 – диэлектрическая проницаемость вакуума; ε – от-
носительная диэлектрическая проницаемость материала; U – приложенное
обратное напряжение, В; l0 – равновесная ширина перехода
2εε 0Vк 0 ⎛ 1 1 ⎞⎟
l0 = ⎜ +
e ⎜N N ⎟ , м, (4.38)
⎝ д а⎠
где Nд, Nа – концентрации донорных и акцепторных примесей в
n и p слоях, м-3.
При прямом смещении емкость перехода обусловлена в основном
диффузионной емкостью, которая на низких частотах равна
39
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 37
- 38
- 39
- 40
- 41
- …
- следующая ›
- последняя »
