Эмиссионная фотометрия пламени и атомно-абсорбционная спектроскопия. Гарифзянов А.Р. - 66 стр.

UptoLike

Составители: 

66
Таблица 3. Влияние протяженности s на величину измеренной оптической
плотности A
изм
(δ = 0,01 нм, A = 1,00), рассчитано по уравнению 34.
Рис. 27. Зависимость измеренной величины оптической
плотности A
изм
от отношения s к ширине спектральной
линии δ
s, нм
δ/s
A
изм
s, нм
s/δ
A
изм
0.001
0.1
0.998
0.02
2
0.522
0.002
0.2
0.991
0,03
3
0.355
0.003
0.3
0.980
0.04
4
0.266
0.004
0.4
0.964
0.5
5
0.212
0.005
0.5
0.945
0.06
6
0.177
0.006
0.6
0.922
0.1
10
0.106
0.008
0.8
0.870
0.2
20
0.053
0.01
1
0.810
0.4
40
0.026
0.015
1.5
0.655
1
100
0.010
0 1 2 3 4 5
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
s/
второго правила Уолша
Область соблюдения
A
изм
                                         66

Таблица 3. Влияние протяженности s на величину измеренной оптической
плотности Aизм (δ = 0,01 нм, A = 1,00), рассчитано по уравнению 34.

      s, нм     δ/s       Aизм         s, нм     s/δ         Aизм
      0.001     0.1       0.998        0.02      2           0.522
      0.002     0.2       0.991        0,03      3           0.355
      0.003     0.3       0.980        0.04      4           0.266
      0.004     0.4       0.964        0.5       5           0.212
      0.005     0.5       0.945        0.06      6           0.177
      0.006     0.6       0.922        0.1       10          0.106
      0.008     0.8       0.870        0.2       20          0.053
      0.01      1         0.810        0.4       40          0.026
      0.015     1.5       0.655        1         100         0.010


              Aизм
                1.0
                                      Область соблюдения
                                     второго правила Уолша
                0.8



                0.6



                0.4



                0.2



                0.0
                      0          1      2        3           4       5
                                                                         s/


      Рис. 27. Зависимость измеренной величины оптической
      плотности Aизм от отношения s к ширине спектральной
      линии δ