Методические указания к лабораторному практикуму по оптике для студентов физического факультета - 31 стр.

                                       31
       2. Соберите схему (рис. 4). Убедитесь в том, что пучок, падающий на
объект, параллельный. Смещая линзу О, сделайте его сходящимся в плоскости
микропроектора.
     3. Получите дифракционную картину от решётки (объекты 31 или 32).
Найдите главные и побочные максимумы.
     4. Измерьте расстояния между главными максимумами.
     5. Проследите с помощью фотоприёмника за поведением "огибающей"
главных максимумов, определите положение минимумов "огибающей".
     6. Постройте график зависимости интенсивности I от величины смещения
микропроектора в обе стороны от центрального нулевого максимума. Шаг
перемещения микропроектора – 0,05 мм. Перемещение осуществляется с
помощью барабана, цена деления которого 0,01 мм, среднее положение – 3 мм.
     7. Вставьте решётки      в кассету микропроектора (модуль 3).
Микропроектором измерьте ширину щелей и периоды решёток.
     8. По формуле (6) определите λ (учтите увеличение микропроектора Г).
     9. Сопоставьте положения минимумов "огибающей" с шириной щелей
решётки. Сравните графики зависимости I от смещения для различных N и d.
     10. В случае отсутствия фотоприёмника найдите на экране Э3 величины
       λm
x2 =      L (Г =20 – увеличение микропроектора) и вычислите λ при дифракции
       dГ
на решётках с различными периодами d.



       Контрольные вопросы

       1. Определение и методы наблюдения дифракции Фраунгофера.
       2. Дифракция на различных объектах, на прямоугольном отверстии.
       3. Дифракция на N щелях. Вывод и анализ распределения интенсивности
I(sin φ) при дифракции на решетке.
       4. График зависимости I(sin φ) для различных N и d.
       5. Методика выполнения работы.


       Литература
       1. Калитеевский Н.И. Волновая оптика. М., 1995. С.281-313.