ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Микропроцессорные системы и программное обеспечение в средствах связи
163
в разумные сроки. Примером этой ситуации является управляющий
комплекс космического спутника связи или отсутствие запасных частей
на складе с временем доставки менее 24 часов. Очевидно, что такой
подход даст нижнюю предельную оценку показателей надёжности. Все
остальные оценки для изделий с возможностью восстановления в ра-
зумное время, будут, по крайней мере, не
хуже полученной для невос-
станавливаемых изделий.
Основными параметрами надежности для невосстанавливаемых
изделий являются интенсивность отказов
λ
, вероятность безот-
казной работы за время
t, P(t), среднее время работы до отказа T:
m
Nt
λ
≈
⋅
(3.1)
(
)
Pt e
t
=
−
λ
(3.2)
()
0
1
,TPtdt где
λ
∞
==
∫
(3.3)
m – число единиц оборудования, отказавших за время t,
N – число исправных единиц оборудования на начало промежутка вре-
мени
t;
λ
– параметр экспоненциального распределения времени работы до
отказа.
Параметр
λ
определяет долю (а не количество) изделий или еди-
ниц оборудования, отказавших в течении заданного интервала време-
ни, например за один час. На этапе промышленной эксплуатации
управляющих комплексов в штатном температурно-влажностном режи-
ме интенсивность отказов изделий можно оценивать по математиче-
скому ожиданию этой величины. Для интегральных полупроводниковых
микросхем значение интенсивности
отказов составляет
λ
=10
-6
…10
-8
Микропроцессорные системы и программное обеспечение в средствах связи
в разумные сроки. Примером этой ситуации является управляющий
комплекс космического спутника связи или отсутствие запасных частей
на складе с временем доставки менее 24 часов. Очевидно, что такой
подход даст нижнюю предельную оценку показателей надёжности. Все
остальные оценки для изделий с возможностью восстановления в ра-
зумное время, будут, по крайней мере, не хуже полученной для невос-
станавливаемых изделий.
Основными параметрами надежности для невосстанавливаемых
изделий являются интенсивность отказов λ, вероятность безот-
казной работы за время t, P(t), среднее время работы до отказа T:
m
λ≈
N ⋅t (3.1)
P (t ) = e− λt (3.2)
∞
1
T = ∫ P ( t ) dt = , где
0
λ (3.3)
m – число единиц оборудования, отказавших за время t,
N – число исправных единиц оборудования на начало промежутка вре-
мени t;
λ – параметр экспоненциального распределения времени работы до
отказа.
Параметр λ определяет долю (а не количество) изделий или еди-
ниц оборудования, отказавших в течении заданного интервала време-
ни, например за один час. На этапе промышленной эксплуатации
управляющих комплексов в штатном температурно-влажностном режи-
ме интенсивность отказов изделий можно оценивать по математиче-
скому ожиданию этой величины. Для интегральных полупроводниковых
микросхем значение интенсивности отказов составляет λ=10-6…10-8
163
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 161
- 162
- 163
- 164
- 165
- …
- следующая ›
- последняя »
