Микропроцессорные системы и программное обеспечение в средствах связи. Гребешков А.Ю. - 163 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

Микропроцессорные системы и программное обеспечение в средствах связи
163
в разумные сроки. Примером этой ситуации является управляющий
комплекс космического спутника связи или отсутствие запасных частей
на складе с временем доставки менее 24 часов. Очевидно, что такой
подход даст нижнюю предельную оценку показателей надёжности. Все
остальные оценки для изделий с возможностью восстановления в ра-
зумное время, будут, по крайней мере, не
хуже полученной для невос-
станавливаемых изделий.
Основными параметрами надежности для невосстанавливаемых
изделий являются интенсивность отказов
λ
, вероятность безот-
казной работы за время
t, P(t), среднее время работы до отказа T:
m
Nt
λ
(3.1)
(
)
Pt e
t
=
λ
(3.2)
()
0
1
,TPtdt где
λ
==
(3.3)
mчисло единиц оборудования, отказавших за время t,
N число исправных единиц оборудования на начало промежутка вре-
мени
t;
λ
параметр экспоненциального распределения времени работы до
отказа.
Параметр
λ
определяет долю (а не количество) изделий или еди-
ниц оборудования, отказавших в течении заданного интервала време-
ни, например за один час. На этапе промышленной эксплуатации
управляющих комплексов в штатном температурно-влажностном режи-
ме интенсивность отказов изделий можно оценивать по математиче-
скому ожиданию этой величины. Для интегральных полупроводниковых
микросхем значение интенсивности
отказов составляет
λ
=10
-6
…10
-8
  Микропроцессорные системы и программное обеспечение в средствах связи
в разумные сроки. Примером этой ситуации является управляющий
комплекс космического спутника связи или отсутствие запасных частей
на складе с временем доставки менее 24 часов. Очевидно, что такой
подход даст нижнюю предельную оценку показателей надёжности. Все
остальные оценки для изделий с возможностью восстановления в ра-
зумное время, будут, по крайней мере, не хуже полученной для невос-
станавливаемых изделий.
     Основными параметрами надежности для невосстанавливаемых
изделий являются интенсивность отказов           λ, вероятность безот-
казной работы за время t, P(t), среднее время работы до отказа T:

         m
     λ≈
        N ⋅t                                                      (3.1)


     P (t ) = e− λt                                                (3.2)
          ∞
                       1
     T = ∫ P ( t ) dt = ,    где
          0
                       λ                                           (3.3)

m – число единиц оборудования, отказавших за время t,
N – число исправных единиц оборудования на начало промежутка вре-
мени t;
λ – параметр экспоненциального распределения времени работы до
отказа.
     Параметр λ определяет долю (а не количество) изделий или еди-
ниц оборудования, отказавших в течении заданного интервала време-
ни, например за один час. На этапе промышленной эксплуатации
управляющих комплексов в штатном температурно-влажностном режи-
ме интенсивность отказов изделий можно оценивать по математиче-
скому ожиданию этой величины. Для интегральных полупроводниковых
микросхем значение интенсивности отказов составляет λ=10-6…10-8

                                   163