Изучение свойств диэлектриков на СВЧ - 9 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

4 ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКОВ МЕТОДОМ КОРОТКО-

ЗАМКНУТОЙ ЛИНИИ

Этот метод наиболее распространен при измерениях диэлектрических

свойств материалов, так как по сравнению с другими методами во многих прак-

тических случаях оказывается относительно более простым и универсальным

по технике подготовки и проведения эксперимента.

Исследуемый образец материала помещается в отрезок короткозамкну-

той линии,

присоединяемый к измерительной линии (рисунок 2). Образец дол-

жен плотно прилегать к короткозамкнутому концу отрезка линии. Длина образ-

ца в принципе может быть произвольной. Однако, как будет показано, точность

измерений существенно повышается, если длина образца составляет ¼ или ½

длины волны в отрезке линии с диэлектриком.

∆

1 – измерительная линия; 2 – волноводная секция; 3 – образец

диэлектрика; 4 – короткозамыкатель

СВЧ сигнал

Рисунок 2 – Схема размещения образца диэлектрика в волноводной

линии