ВУЗ:
Составители:
7.11. Зависимость эффективности АО от трудоёмкости
ФСО
m L N
АО
Э
АО
AL
/
L
АУ, ДУ 9 635 159 0,876 0,969 –
АУ, ДУ 10 859 890 0,403 0,986 0,354
ОП 9 543 277 0,424 0,974 –
ОП 10 748 277 0,207 0,987 0,377
Для АУ и ДУ увеличение эффективности отладки на 1,7% требует увеличения трудоёмкости на 35,4%. Для ОП рост
эффективности на 1,3% требует увеличения трудоёмкости на 37,7%.
Оценка остаточного числа дефектов после комплексной отладки. Комплексная отладка проводится по подсистемам
в целом и имеет целью функциональное тестирование и тестирование межсекционных и внешних связей. Остаточное число
дефектов и эффективность отладки прогнозируются с помощью модели КМ.
Результаты расчётов вероятности необнаружения дефекта
1
( , )
P m P
и среднего остаточного числа дефектов по
формулам (7.23) и (7.25) для двухканальной системы при
m
= 8 и
1/
k
n
β =
приведены в табл. 7.12. Данные для расчёта взяты
из табл. 7.9.
7.12. Результаты комплексной отладки
N
АО
,
m
= 9
N
ПО
,
m
= 8
ФСО
n
1
( , )
P m
β
ФПО ИО ФПО ИО
АУ 20 0,1843 3,30 0,73 0,608 0,073
ДУ 17 0,0982 13,78 1,45 1,353 0,145
ОП 20 0,1843 5,27 1,45 0,971 0,145
Все – – 21,02 1,60 2,93 0,16
Для оценки остаточного числа дефектов в БД принят коэффициент эффективности тестирования
КО
0,9
α =
.
Трудоёмкость КО равна сумме длительностей тестовых последовательностей при отладке подсистем:
8 8
20 17
1 1
2 2 263 950 65 536.
i i
i i
L C C
= =
= + = ⋅ +
∑ ∑
Полученное значение сравнимо с трудоёмкостью автономной отладки (
L
АО
= 635 159).
После КО не полностью проверенными оказались КМ ранга
r
от 9 до 17 для подсистемы ДУ и ранга
r
от 9 до 20 для АУ
и ОП. Проанализируем связь эффективности и полноты отладки.
1. Поскольку в пределах КМ наблюдается равномерное распределение вероятности появления дефекта по различным
комбинациям, значения полноты отладки как доли числа
0
r
R
проверенных комбинаций и эффективности отладки как доли
обнаруженных дефектов совпадают. Это значит, что между ними есть линейная зависимость.
2. Коэффициент полноты отладки для КМ
n
-то ранга и для всей логической структуры в соответствии с (7.20) и (7.22)
совпадают. Однако при
m
<
r
<
n
коэффициент полноты отладки
r
δ
существенно больше, чем при
r
=
n
(табл. 7.13), и
соответственно больше коэффициента эффективности отладки. Поскольку при увеличении длины тестовой
последовательности одновременно тестируются в определённой степени все КМ, это порождает нелинейную зависимость
числа обнаруженных дефектов и эффективности отладки от полноты отладки логической структуры.
3. Сравнивая данные, приведённые в табл. 7.12 и 7.13, видим, что для подсистем АУ и ОП (
n
= 20) при полноте
отладки 0,249 коэффициент эффективности отладки достигает значения 0,83 и лежит между значениями коэффициента
эффективности для КМ 13-го и 14-го рангов. Для подсистемы ДУ (
n
= 17) при полноте отладки 0,5 коэффициент
эффективности отладки
КО
Э
=
0,9 и лежит между значениями для КМ 12-го и 13-го рангов.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 52
- 53
- 54
- 55
- 56
- …
- следующая ›
- последняя »