Надежность информационных систем. Громов Ю.Ю - 54 стр.

UptoLike

7.11. Зависимость эффективности АО от трудоёмкости
ФСО
m L N
АО
Э
АО
AL
/
L
АУ, ДУ 9 635 159 0,876 0,969
АУ, ДУ 10 859 890 0,403 0,986 0,354
ОП 9 543 277 0,424 0,974
ОП 10 748 277 0,207 0,987 0,377
Для АУ и ДУ увеличение эффективности отладки на 1,7% требует увеличения трудоёмкости на 35,4%. Для ОП рост
эффективности на 1,3% требует увеличения трудоёмкости на 37,7%.
Оценка остаточного числа дефектов после комплексной отладки. Комплексная отладка проводится по подсистемам
в целом и имеет целью функциональное тестирование и тестирование межсекционных и внешних связей. Остаточное число
дефектов и эффективность отладки прогнозируются с помощью модели КМ.
Результаты расчётов вероятности необнаружения дефекта
1
( , )
P m P
и среднего остаточного числа дефектов по
формулам (7.23) и (7.25) для двухканальной системы при
m
= 8 и
1/
k
n
β =
приведены в табл. 7.12. Данные для расчёта взяты
из табл. 7.9.
7.12. Результаты комплексной отладки
N
АО
,
m
= 9
N
ПО
,
m
= 8
ФСО
n
1
( , )
P m
β
ФПО ИО ФПО ИО
АУ 20 0,1843 3,30 0,73 0,608 0,073
ДУ 17 0,0982 13,78 1,45 1,353 0,145
ОП 20 0,1843 5,27 1,45 0,971 0,145
Все 21,02 1,60 2,93 0,16
Для оценки остаточного числа дефектов в БД принят коэффициент эффективности тестирования
КО
0,9
α =
.
Трудоёмкость КО равна сумме длительностей тестовых последовательностей при отладке подсистем:
8 8
20 17
1 1
i i
i i
L C C
= =
= + = +
Полученное значение сравнимо с трудоёмкостью автономной отладки (
L
АО
= 635 159).
После КО не полностью проверенными оказались КМ ранга
r
от 9 до 17 для подсистемы ДУ и ранга
r
от 9 до 20 для АУ
и ОП. Проанализируем связь эффективности и полноты отладки.
1. Поскольку в пределах КМ наблюдается равномерное распределение вероятности появления дефекта по различным
комбинациям, значения полноты отладки как доли числа
0
r
R
проверенных комбинаций и эффективности отладки как доли
обнаруженных дефектов совпадают. Это значит, что между ними есть линейная зависимость.
2. Коэффициент полноты отладки для КМ
n
-то ранга и для всей логической структуры в соответствии с (7.20) и (7.22)
совпадают. Однако при
m
<
r
<
n
коэффициент полноты отладки
r
δ
существенно больше, чем при
r
=
n
(табл. 7.13), и
соответственно больше коэффициента эффективности отладки. Поскольку при увеличении длины тестовой
последовательности одновременно тестируются в определённой степени все КМ, это порождает нелинейную зависимость
числа обнаруженных дефектов и эффективности отладки от полноты отладки логической структуры.
3. Сравнивая данные, приведённые в табл. 7.12 и 7.13, видим, что для подсистем АУ и ОП (
n
= 20) при полноте
отладки 0,249 коэффициент эффективности отладки достигает значения 0,83 и лежит между значениями коэффициента
эффективности для КМ 13-го и 14-го рангов. Для подсистемы ДУ (
n
= 17) при полноте отладки 0,5 коэффициент
эффективности отладки
КО
Э
=
0,9 и лежит между значениями для КМ 12-го и 13-го рангов.