Составители:
Рубрика:
92
}
Обедненная область W
Si
3
N
4
SiO
2
p
+
n
+
n
+
p контакт
n контакт
Рис. 5.12. Конструкция p-i-n фотодиода
Введение слоя собственного полупроводника между p- и n-слоями
примесного полупроводника позволяет существенно увеличить размер области
пространственного заряда.
hν
p
i
n
x
E
Рис. 5.13. Принцип действия p-i-n фотодиода
В i-слое свободные носители практически отсутствуют и силовые линии
электрического поля, начинающие с доноров в n-области, без экранировки
проходят через i-слой и заканчиваются на акцепторах p-области.
Ширина i-слоя составляет обычно 500–700 мкм. В отличие от i-зоны,
легированные слои сделаны очень тонкими. Все вместе это сделано для того,
чтобы все оптическое излучение поглощалось в i-слое и сокращалось время
переноса зарядов из i-зоны в легированные области.
В результате падающие фотоны возбуждают ток во внешнем контуре более
Si3N4
p контакт
p+
SiO2
}
n+
Обедненная область W
n+
n контакт
Рис. 5.12. Конструкция p-i-n фотодиода
Введение слоя собственного полупроводника между p- и n-слоями
примесного полупроводника позволяет существенно увеличить размер области
пространственного заряда.
hν
E
p
i
n
x
Рис. 5.13. Принцип действия p-i-n фотодиода
В i-слое свободные носители практически отсутствуют и силовые линии
электрического поля, начинающие с доноров в n-области, без экранировки
проходят через i-слой и заканчиваются на акцепторах p-области.
Ширина i-слоя составляет обычно 500–700 мкм. В отличие от i-зоны,
легированные слои сделаны очень тонкими. Все вместе это сделано для того,
чтобы все оптическое излучение поглощалось в i-слое и сокращалось время
переноса зарядов из i-зоны в легированные области.
В результате падающие фотоны возбуждают ток во внешнем контуре более
92
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 90
- 91
- 92
- 93
- 94
- …
- следующая ›
- последняя »
