Основы диэлектрической спектроскопии. Гусев Ю.А. - 104 стр.

                                            1 1− Г
                                                      − Cе
                                          jωW0 1 + Г
                                       ε=                  .
                                             С0 − С е

     В разностном методе концевой емкости коэффициент отражения определяется
соотношением

                          F [и0 (t ) − иСН (t )] (1 − jωW0 (Cе + (С0 − Се )ε оп ))
                     Г=                                                              .
                          F [и КЗ (t ) + иСН (t )] (1 + jωW0 (Cе + (С0 − Се )ε оп ))

     Емкости Со и Се определяются по результатам калибровки по образцам диэлектрика с
известной диэлектрической проницаемостью. В качестве таких опорных веществ могут
служить вещества с малым изменением диэлектрической проницаемости от температуры или
частоты, например, воздух, фторопласт или жидкие диэлектрики с известным значением
диэлектрической проницаемости. При этом, если в измерительной ячейке находится воздух,
то наибольшее влияние на результат измерений оказывает емкость Со, а если в ячейке находится
диэлектрик с большим значением диэлектрической проницаемости, то результат измерений
в большей степени зависит от емкости С1. Параметры ячейки С0, С1, Се определяются
экспериментальным путем при калибровке и для ячейки с заданной геометрией в
дальнейшем не изменяются.
     Значение емкости измерительной ячейки в первом приближении можно рассчитать по
формуле емкости плоского конденсатора:

                                            А
                                      С=       [см] ≈ А [пФ] ,
                                           4πd       14d

где A и d - площадь пластин и расстояние между ними в сантиметрах.




                                                                                         104