Спецпрактикум по сверхвысоким частотам. Гусев Ю.А. - 127 стр.

                                           1 1− Г
                                                    − Cе
                                         jωW0 1 + Г
                                      ε=
                                            С0 − Се

    В разностном методе              концевой        емкости       коэффициент        отражения
определяется соотношением

                         F [и0 (t ) − иСН (t )] (1 − jωW0 (Cе + (С0 − Се )ε оп ))
                    Г=
                         F [и КЗ (t ) + иСН (t )] (1 + jωW0 (Cе + (С0 − Се )ε оп ))

    Емкости Со и Се определяются по результатам калибровки по образцам
диэлектрика с известной диэлектрической проницаемостью. В качестве таких
опорных веществ могут служить вещества с малым изменением диэлектрической
проницаемости от температуры или частоты, например, воздух, фторопласт или
жидкие диэлектрики с известным значением диэлектрической проницаемости.
При этом, если в измерительной ячейке находится воздух, то наибольшее влияние
на результат измерений оказывает емкость Со, а если в ячейке находится
диэлектрик с большим значением диэлектрической проницаемости, то результат
измерений в большей степени зависит от емкости С1. Параметры ячейки С0, С1, Се
определяются экспериментальным путем при калибровке и для ячейки с заданной
геометрией в дальнейшем не изменяются.
    Значение емкости измерительной ячейки в первом приближении можно
рассчитать по формуле емкости плоского конденсатора

                                           А
                                     С=       [см] ≈ А [пФ]
                                          4πd       14d

    где A и d - площадь пластин и расстояние между ними в сантиметрах.
    На рис. 7 представлена блок-схема экспериментальной установки для метода
сосредоточенной емкости




            Р5-11




       Рис.7. Блок-схема установки для метода сосредоточенной емкости.