ВУЗ:
Составители:
Использование тонкого образца в сочетании с однородной воздушной линией
позволяет реализовать измерительную ячейку с минимальными
неоднородностями и применять зондирующий сигнал, как в форме перепада
напряжения, так и короткого импульса.
Рис. 4. Форма сигнала, отраженного от измерительной ячейки с тонким
образцом.
Точное решение по методу образца конечной длины L.
Диэлектрическая проницаемость ячейки с образцом длиной L связано на
каждой частоте с параметром
S
11
= Г измерительной ячейки трансцендентным
уравнением:
[
]
)21exp(1
)2exp(1
2
11
L
L
S
γρ
ρ
γ
−−
−
−
=
ε
ε
ρ
+
−
=
1
1
ε
ω
γ
c
j
=
Это уравнение может быть решено относительно
ε с использованием
итерационного алгоритма. Для обеспечения правильного решения необходимо,
чтобы переходный процесс, возникающий вследствие переотражений волн от
границ образца в отраженном сигнале, установился в пределах регистрируемого
временного окна. Другим условием, ограничивающим применение метода
тонкого образца, является возникновение волн высшего типа в измерительной
ячейке.
3. Метод сосредоточенной емкости
Метод справедлив при условии f
max
<<
c/lε’
½
, где l - наибольший из линейных
размеров неоднородности. Диэлектрическая проницаемость непроводящих
диэлектриков при использовании метода концевой емкости определяется
формулой:
Г
Г
WCi +
−
=
1
11
00
ω
ε
Использование тонкого образца в сочетании с однородной воздушной линией позволяет реализовать измерительную ячейку с минимальными неоднородностями и применять зондирующий сигнал, как в форме перепада напряжения, так и короткого импульса. Рис. 4. Форма сигнала, отраженного от измерительной ячейки с тонким образцом. Точное решение по методу образца конечной длины L. Диэлектрическая проницаемость ячейки с образцом длиной L связано на каждой частоте с параметром S11 = Г измерительной ячейки трансцендентным уравнением: S11 = [1 − exp(−2γL)]ρ 1 − ρ 2 exp(1 − 2γL) 1− ε ρ = 1+ ε jω γ = ε c Это уравнение может быть решено относительно ε с использованием итерационного алгоритма. Для обеспечения правильного решения необходимо, чтобы переходный процесс, возникающий вследствие переотражений волн от границ образца в отраженном сигнале, установился в пределах регистрируемого временного окна. Другим условием, ограничивающим применение метода тонкого образца, является возникновение волн высшего типа в измерительной ячейке. 3. Метод сосредоточенной емкости Метод справедлив при условии fmax<< c/lε’½, где l - наибольший из линейных размеров неоднородности. Диэлектрическая проницаемость непроводящих диэлектриков при использовании метода концевой емкости определяется формулой: 1 1− Г ε= iωC0W0 1 + Г
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 123
- 124
- 125
- 126
- 127
- …
- следующая ›
- последняя »