Составители:
Рубрика:
100%
62.99%
51.53%
40.08%
28.63%
18.32%
1970
1977
1978
1979
1982
1985
50В
4,7
мкФ
Рис. 21. Динамика уменьшения с годами объемов алюминиевых
оксидно-электролитических конденсаторов (данные фирмы Nippon
ChemiCon, Япония).
Результаты отечественных исследований в этом направлении
обнаруживают перспективы использования в качестве анодного мате-
риала целого ряда не содержащих тантала микрокристаллических
(аморфных) материалов.
Решение проблемы уменьшения тока утечки и повышения рабо-
чего напряжения потребовало углубленных физических исследований
механизмов переноса заряда в рабочих структурах оксидных конден-
саторов.
Величина тока утечки складывается из нескольких составляю-
щих:
I
ут
= I
деф
+ σ E S + I
инж ,
(3.1)
где I
деф
- ток, протекающий по дефектным участкам оксидного ди-
электрика, занимающим несоизмеримо малую площадь по сравне-
нию с площадью поверхности анода S;
σ - удельная электрическая проводимость однородного оксида;
Е - средняя напряженность электрического поля в диэлектрике,
соответствующая рабочему напряжению конденсатора;
54
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 52
- 53
- 54
- 55
- 56
- …
- следующая ›
- последняя »
