ВУЗ:
Составители:
50% (
c+t)+50% m. Отличие такого состава от результатов, полученных
методом РФА можно объяснить мартенситным
t m превращением при
разрушении О-керамики зернистостью 0,8 мкм, тогда как в УЗ-керамике
с ультрадисперсной структурой
t - фаза стабилизируется при комнатной
температуре [124].
→
3.4.1.2. Дефектная субструктура нанокерамики Y-ТЦП
На рисунке 3.11 приведены характерные фотографии структуры ско-
лов, образовавшихся в результате разрушения керамики по плоскостям
спайности.
Во-первых, это сколы, на электронно-микроскопических изображе-
ниях которых практически не обнаруживается дефектная субструктура
(рис. 3.11
а). Судя по микроэлектронограммам (рис. 3.11б), такие слои-
субзёрна являются монокристаллами. В этом случае нанокристалличе-
ская внутризёренная структура частиц исходного нанопорошка при спе-
кании керамики рекристаллизовалась в более крупные монокристаллы.
Такие сколы характерны для О-керамики.
Во-вторых, наблюдались сколы, строение которых было подобным
частицам исходного нанопорошка (рис. 3.11
в,г): поликристаллы с раз-
мером кристаллитов 30–50 нм.
В-третьих, обнаружены сколы, на электронно-микроскопическом
изображении которых наблюдалась сложная дефектная субструктура,
по дифракционному контрасту напоминающая дислокационную
(рис. 3.11
д). Сколы типа рисунка 3.11в,д характерны для УЗ-керамики.
Иная картина обнаруживается при анализе сколов, образовавшихся
при разрушении зерен под некоторым углом к плоскостям спайности
слоев. В этом случае на электронно-микроскопическом изображении
видна полосчатая структура (рис. 3.12
а–в). Поперечная ширина данных
полос составляет 80–100 нм, что хорошо согласуется с расстоянием ме-
жду соседними бороздками скола. Очевидно, такие полосы представля-
ют собой изображение торцевой проекции слоистых пакетов, форми-
рующих зерна керамики. В некоторых случаях внутри полос наблюда-
ется дефектная субструктура в виде отдельно расположенных линий. По
характеру дифракционного контраста данные дефекты могут быть отне-
сены к дислокациям.
По методике [123] определено, что в кристаллах М-фазы исследуе-
мой керамики плотность дислокаций составляет 6,3·10
10
см
-2
. В высоко-
температурных (
c+t) фазах в УЗ-керамике плотность дислокаций
7,5·10
10
см
-2
, тогда как в О-керамике плотность дислокаций в среднем в 5
раз ниже: 1,5·10
10
см
-2
(табл. 3.4). Подобный факт свидетельствует о бо-
85
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 83
- 84
- 85
- 86
- 87
- …
- следующая ›
- последняя »
