ВУЗ:
Составители:
Рис. 3.12. Электронно-микроскопическое изображение дефектной структуры
нанокерамики Y-ТЦП:
а) светлопольное изображение; б) схема к рисунку 2.6 а (d
п
– пластинки-чешуйки); в) микроэлектроннограмма; плоскости обратных решёток
(112) ZrO
2
(с) и (112) ZrO
2
(m)
3.4.1.3. Исследования микроструктуры нанокерамики Y-ТЦП
методами АСМ
О наличии сложной масштабно-структурной иерархии исследуемой
нанокерамики Y-ТЦП свидетельствуют также результаты исследований,
проведённые методами АСМ на зондовом микроскопе P47-MDT в ре-
жиме фазового контраста [125].
Изображение фазового контраста формируется в процессе регистра-
ции сдвига фазы осцилляций зонда (кремниевого кантилевера типа
NSG11 производства NT-MDT, Россия) при сканировании поверхности
скола образца.
В таблице 3.6 приведены средние размеры зёрен керамики Y-ТЦП
(
t=0,12), определенные по данным СЭМ-анализа (методом секущих) и
АСМ (рассчитанные с помощью программного обеспечения NOVA
фирмы NT-MDT).
Различие результатов обработки данных СЭМ и АСМ объясняется
различной информативностью методов анализа: микрофотографии СЭМ
отражают изображение лишь зёрен и их агрегатов (блоков), тогда как
АСМ-анализ в режиме фазового контраста чувствителен к наличию бо-
лее тонкой микроструктуры – субзёрен. О наличии субструктуры зёрен
свидетельствуют данные обработки АСМ-изображений, полученных в
режиме фазового контраста (рис. 3.13
а,б). В частности, на топографиче-
87
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 85
- 86
- 87
- 88
- 89
- …
- следующая ›
- последняя »
