Выполнение измерений параметров шероховатости поверхности по ГОСТ 2789-73 при помощи приборов профильного метода. Хватов Б.Н. - 6 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

Контроль шероховатости путем сравнения со стандартными образцами или аттестованной деталью широ-
ко используется в цеховых условиях. Шероховатость поверхности детали сравнивается визуально (невоору-
женным глазом или через лупу) с поверхностью образца из того же материала и обработанного тем же спосо-
бом, что и деталь. Метод сравнения обеспечивает надежную оценку шероховатости поверхности в пределах
R
a
= 0,63...5 мкм. Более чистые поверхности (R
a
= 0,08...0,32 мкм) сравниваются с помощью специальных мик-
роскопов сравнения.
Количественные методы оценки основаны на измерении микронеровностей специальными приборами (бе-
сконтактными и контактными).
Наибольшее распространение для бесконтактных измерений шероховатостей получили оптические прибо-
ры: светового сечения, теневой проекции и интерференции света.
Приборы светового сечения (ПСС) называют двойными микроскопам (МИС-11 системы В.П. Линника).
Они позволяют измерять шероховатость поверхности до R
z
= 0,8 мкм. Для измерения более чистых поверхнос-
тей с R
z
= 0,8...0,03 мкм применяют микроинтерферометры (МИИ-4; МИИ-5; МИИ-10; МИИ-12), работающие
на принципе интерференции света. Поверхность образца (детали) рассматривается в микроскоп и при этом на
ее изображение накладываются интерференционные полосы, по искривлению которых судят о распределении
неровностей. Если бы контролируемая поверхность была идеально плоской, то на ней возникли бы прямые па-
раллельные интерференционные полосы. Микронеровности на поверхности изменяют ход лучей и вызывают
искривление полос, которые воспроизводят микропрофиль контролируемого участка. Высоту неровностей
определяют так же, как и в методе светового сечения с помощью винтового окулярного микрометра.
Наибольшее распространение для определения шероховатости поверхности контактным методом получи-
ли щуповые приборы, работающие по методу ощупывания поверхности алмазной иглой. К этой группе прибо-
ров относятся профилометры, непосредственно показывающие среднее арифметическое отклонение профиля
R
a
, и профилографы, записывающие профиль поверхности. Алмазные иглы к профилометрам и профилографам
имеют коническую форму с очень малым радиусом закругления при вершине.
Отечественной промышленностью выпускаются профилометры-профилографы моделей 201; 202; 280;
171311, а также профилометры моделей 253, 283, 296, 171621, которые позволяют измерять параметр шерохо-
ватости R
a
до 0,02...0,04 мкм.
Для оценки шероховатости поверхностей деталей больших габаритов, в труднодоступных местах, когда
непосредственное применение прибором невозможно, используют метод слепков. Специально изготовленную
массу с силой прикладывают к измеряемой поверхности. После застывания масса отделяется от поверхности,
получается слепок, на поверхности которого зеркально повторяются неровности исследуемой поверхности. По
измеренной шероховатости поверхности слепка определяют параметры шероховатости контролируемой повер-
хности детали. В качестве материала для слепка применяют целлулоид, легкоплавкие сплавы, воск, парафин,
серу, гипс-хромпик и др. Для измерения шероховатости используют преимущественно бесконтактные методы.
Ниже изложены методики выполнения измерений параметров микропрофиля приборами с графической
регистрацией профиля и приборами светового сечения.
1. МЕТОДИКА ВЫПОЛНЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ
ПРИ ПОМОЩИ
ПРОФИЛОГРАФОВ С ГРАФИЧЕСКОЙ РЕГИСТРАЦИЕЙ
ПРОФИЛЯ
Настоящая методика распространяется на методы выполнения измерений параметров шероховатости R
a
,
R
z
, R
max
, S
т
, S, t
p
в системе М, а также исследования других параметров профиля по снятым профилограмам по-
верхности.
Все термины и определения, используемые в данной методике, соответствуют ГОСТ 2789–73.
1.1. НАСТРОЙКА ПРИБОРА И УСТАНОВКА ОБРАЗЦА
Перед измерением прибор настраивается в соответствии с инструкцией по пользованию им персоналом,
прошедшим соответствующую подготовку и имеющим навыки работы с ним.
Поверхность контролируемого образца устанавливают так, чтобы направление сечения, определяющего
профиль, совпадало с указанным в технической документации, утвержденной к прибору в установленном по-
рядке. Поверхность должна быть тщательно очищена от посторонних примесей и обезжирена.
1.2. ВЫБОР УВЕЛИЧЕНИЙ ПРИБОРА
Вертикальное и горизонтальное увеличения профилографа должны выбираться из технических требований
тех устройств, которые используются для дальнейшей обработки профиля.

Страницы