Выполнение измерений параметров шероховатости поверхности по ГОСТ 2789-73 при помощи приборов профильного метода. Хватов Б.Н. - 8 стр.

UptoLike

Составители: 

Рис. 3. Схема расположения трасс измерения
Интервалы корреляции х
к
в этом случае определяются в зависимости от значений коэффициента λ
1
, равно-
го отношению
,
1
m
n
=λ
где пчисло пересечений профиля со средней линией; тчисло вершин выступов профилограммы на длине L.
Величину интервала корреляции х
к
определяют из соотношений:
,85,0 для мм ,
;85,0 для мм ,
1
0
к
1
0
к
>λ
τ
=
λ
τ
=
m
x
n
x
где n
0
= n/L и m
0
= m/Lудельные значения числа пересечений и числа вершин на единице длины профилогра-
ммы L, соответственно.
Значения коэффициента τ определяются по табл. 2.
2. Значения коэффициента τ
λ 0,10 0,30 0,60 0,85 1,20 1,60 1,80
τ 6,4 2,1 1,0 0,7 0,54 0,58 0,76
Минимальное расстояние между участками измерения на образце принимают равным не менее (рис. 3)
, 10
г
к
21
V
x
xx =
где V
г
горизонтальное увеличение (развертка) записи профилограммы.
1.5. ВЫПОЛНЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ НА ПРОФИЛОГРАММАХ
1.5.1. Вертикальное и горизонтальное увеличение профилограмм
Внешний вид профилограмм микрорельефа поверхности показан на рис. 4. Профилограммы, в соответст-
вии с моделью профилографа, записывается на специальной диаграммной ленте электрографическим (прожи-
ганием) методом. В частности, для профилографов мод. 201, 240 и др. завода «Калибр», применяются диаграм-
мные ленты с прямоугольной сеткой с ценой деления (сторона квадратика) 2 мм. Вертикальное и горизонталь-
ное увеличение записи на профилограмме устанавливается на приборе и промечаваются оператором вручную
при снятии профилограммы. Обычно горизонтальный участок профилограммы (длину) принимают равной не
менее трем базовым длинам профиля, т.е. L 3l
б
υ
r
.
х
2
х
1