Составители:
74
σ
ФФ
iNi() ()=
,
где
Ni
Ф
()
- среднее число фоновых зарядов, накапливаемых в элемен-
тах. Таким образом, при неравномерном фоне флуктуации фоновых
составляющих в различных элементах будут различны и пропорцио-
нальны корню квадратному от величины фоновой составляющей в
соответствующих точках в плоскости анализа изображения.
Влияние перечисленных факторов часто значительно превышает
влияние других источников шума в ФПЗС.
В
более общем случае приходится учитывать также флуктуации
сигнальных составляющих
σ
С C
iNi() (),=
где
Ni
C
()
- среднее число сигнальных зарядов от объекта наблюдения
в i-том элементе.
Таким образом, и сам объект наблюдения может быть дополни-
тельным источником шумов.
Совокупность всех шумов, действующих в ФПЗС, может быть
измерена средним квадратическим числом шумовых электронов
σ σσσσσσ
ШГТФСПВУ
=+++++
22222 2
.
В последнем выражении под квадратным корнем присутствуют
ещё два слагаемых:
σ
П
2
- дисперсия шума переноса зарядов в ПЗС-структуре;
σ
ВУ
2
- дисперсия шума, возникающего в выходном устройстве
при детектировании зарядов и усилении видеосигнала.
Сведения об этих составляющих можно найти, например, в ли-
тературе, приведённой в конце настоящего описания. Там же содер-
жится более подробная информация о рассмотренных выше физиче-
ских процессах.
Описание лабораторной установки
Схема установки приведена на рис. 40.
Изображение
щелевой диафрагмы 1, создаваемое источником
сигнала 5, с помощью оптической системы 2, 3, 4 проецируется на
светочувствительную площадку линейного ФПЗС фотоприёмного
блока 7. На фоточувствительной площадке наблюдается вертикаль-
ный штрих, который может перемещаться по всей длине площадки с
помощью микрометрической подвижки 9. Для создания фона исполь-
зуется источник фона 6, создающий
рассеянное облучение фотопри-
ёмника.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 72
- 73
- 74
- 75
- 76
- …
- следующая ›
- последняя »
