Рубрика:
()
3
2/3
**
22
h
kTmm
nn
pn
pn
∗∗Π
==
Число электронов в зоне проводимости и дырок в валентной зоне собственного проводника
значительно меньше числа квантовых состояний, содержащихся в этих зонах. Поэтому функция распределения
f(Е), определяющая вероятность того, что состояние с энергией Е занято электроном при данной температуре
Т , значительно меньше единицы:
f(E)<<1 (7.1)
Полупроводники, у которых для электронного
газа в зоне проводимости и дырочного газа в валентной
зоне выполняется условие (7.1), называется невырожденным. В этом случае распределение Ферми – Дирака
переходит в классическое распределение Максвелла – Больцмана
(7.2)
где μ – энергия Ферми (или химический потенциал), определяющая приращение энергии системы частиц при
увеличении числа частиц на единицу; k – постоянная Больцмана, равная 1.38*10
-23
Дж/К.
Для того, чтобы найти зависимость электрической проводимости полупроводников от
температуры, нужно, прежде всего, определить концентрацию свободных носителей заряда, способных
участвовать в процессе проводимости. В собственном полупроводнике n
n
электронов в зоне проводимости и
концентрация n
p
дырок в валентной зоне равны и зависят от температуры:
(7.3)
где m
*
n
, m
*
p
– эффективные массы электронов и дырок;
Е
д
– энергия активации.
При Т=300 К ширина запрещенной зоны германия – 0.72 эВ, кремния – 1.12 эВ. Собственная концентрация
заряда при этой температуре в германии 2,5*10
13
см
-3
. Из общих представлений о механизме электрического
тока можно получить выражение для определения удельной электрической проводимости собственных
полупроводников:
(7.4)
где
μ
n
, μ
p
– подвижность электронов и дырок;
q
e -
заряд электрона.
Подвижность носителей заряда
μ
n,p
численно равна скорости носителей, приобретаемой ими под
действием поля единичной напряженности. Величина подвижности зависит от температуры и механизма
рассеивания носителей заряда в полупроводнике, который определяется типом химической связи
кристаллической решетки, наличием примеси и других кристаллических дефектов полупроводника. Для
собственных полупроводников теоретические расчеты дают:
где
α
n,
α
p
– константы, определяемые экспериментально.
Подставив значения
n, μ
n
, μ
p
в формулу (7.4) и обозначив через σ
0
выражение , стоящее перед
экспонентой, получим (7.5)
()
⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
−
∗=
⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
−∗
⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
∗=
kT
E
A
kT
E
kT
AEf
dd
μ
μ
expexp
(
)
pne
nq
μ
μ
σ
+
=
2/32/3
,
−−
== TT
ppnn
α
μ
α
μ
⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
−=
kT
E
d
2
exp
0
σσ
Число электронов в зоне проводимости и дырок в валентной зоне собственного проводника значительно меньше числа квантовых состояний, содержащихся в этих зонах. Поэтому функция распределения f(Е), определяющая вероятность того, что состояние с энергией Е занято электроном при данной температуре Т , значительно меньше единицы: f(E)<<1 (7.1) Полупроводники, у которых для электронного газа в зоне проводимости и дырочного газа в валентной зоне выполняется условие (7.1), называется невырожденным. В этом случае распределение Ферми Дирака переходит в классическое распределение Максвелла Больцмана (7.2) ⎛ μ ⎞ ⎛ Ed ⎞ ⎛ μ − Ed ⎞ f (E ) = A ∗ exp ⎜ ⎟∗⎜− ⎟ = A ∗ exp ⎜ ⎟ ⎝ kT ⎠ ⎝ kT ⎠ ⎝ kT ⎠ где μ энергия Ферми (или химический потенциал), определяющая приращение энергии системы частиц при увеличении числа частиц на единицу; k постоянная Больцмана, равная 1.38*10-23 Дж/К. Для того, чтобы найти зависимость электрической проводимости полупроводников от температуры, нужно, прежде всего, определить концентрацию свободных носителей заряда, способных участвовать в процессе проводимости. В собственном полупроводнике nn электронов в зоне проводимости и концентрация np дырок в валентной зоне равны и зависят от температуры: nn = n p = ( 2 2Π mn* ∗ m *p ∗ kT ) 3/ 2 h3 (7.3) где m*n, m*p эффективные массы электронов и дырок; Ед энергия активации. При Т=300 К ширина запрещенной зоны германия 0.72 эВ, кремния 1.12 эВ. Собственная концентрация заряда при этой температуре в германии 2,5*1013 см-3. Из общих представлений о механизме электрического тока можно получить выражение для определения удельной электрической проводимости собственных полупроводников: σ = qe n(μ n + μ p ) (7.4) где μn, μp подвижность электронов и дырок; qe - заряд электрона. Подвижность носителей заряда μn,p численно равна скорости носителей, приобретаемой ими под действием поля единичной напряженности. Величина подвижности зависит от температуры и механизма рассеивания носителей заряда в полупроводнике, который определяется типом химической связи кристаллической решетки, наличием примеси и других кристаллических дефектов полупроводника. Для собственных полупроводников теоретические расчеты дают: μ n = α nT −3 / 2 , μ p = α pT −3 / 2 где αn,αp константы, определяемые экспериментально. Подставив значения n, μn, μp в формулу (7.4) и обозначив через σ0 выражение , стоящее перед экспонентой, получим (7.5) ⎛ Ed ⎞ σ = σ 0 exp⎜ − ⎟ ⎝ 2kT ⎠