ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
76 77
5. МАГНИТНЫЕ МЕТОДЫ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО
КОНТРОЛЯ (МНК)
МНК применяются только для контроля деталей и изделий,
изготовленных из ферромагнитных материалов, находящихся в
намагниченном состоянии. МНК основаны на регистрации магнит-
ных полей рассеяния, возникающих над дефектами, поэтому эти
методы позволяют определять только поверхностные и подповерх-
ностные дефекты, залегающие в ферромагнетиках на глубинах,
не превосходящих 15 мм.
Дефекты наиболее легко обнаруживаются, когда направле-
ние намагничивания контролируемой детали перпендикулярно
направлению дефекта. Для оптимального выявления дефектов при
МНК намагничивание контролируемых изделий производят в двух
направлениях, а деталей сложной формы – в нескольких направле-
ниях.
На рис. 5.1 приведена схема образования магнитного поля
над дефектом. Контролируемая деталь 1 с трещиной 2 помещена
между полюсами NS постоянного магнита (электромагнита). Над
трещиной возникает магнитное поле рассеяния 3, эквивалентное
маленькому магниту с полюсами NS.
Рис. 5.1. Схема образования магнитного поля над дефектом
После намагничивания изделия осуществляется проявление
дефектов, состоящее в фиксировании магнитного поля над дефек-
том каким-либо методом: порошковым, феррозондовым, магнито-
графическим и другими методами, которые будут рассмотрены в
дальнейшем. При этом контроль (выявление) дефектов осуществ-
ляется двумя способами:
1. Контроль дефектов на остаточной намагниченности
контролируемого изделия, пригодный только для магнитотвёрдых
материалов с коэрцитивной силой Н
С
больше 800 А/м (больше 10 Э).
В этом случае проявление дефектов осуществляется после
намагничивания контролируемого изделия и удаления его из
намагничивающего поля.
2. Контроль дефектов в приложенном магнитном поле,
применяемый для магнитомягких материалов, у которых коэр-
цитивная сила H
с
<800 А/м (10 Э). В этом случае проявление дефек-
тов осуществляется после намагничивания контролируемого изде-
лия без его удаления из намагничивающего поля, т.к. без приложен-
ного внешнего магнитного поля над дефектами образуются слабые
магнитные поля рассеяния, не позволяющие выявить дефект. Этим
способом контролируют детали сложной формы, а также в том
случае, когда мощности источника питания недостаточно для
намагничивания всей детали вследствие ее больших размеров; в
приложенном магнитном поле рабочая индукция поля достигается
при почти в четыре раза меньшей напряженности магнитного поля.
После МНК обязательно проводится размагничивание
проконтролированного изделия.
5.1. Способы намагничивания
контролируемых изделий
Качество МНК существенно зависит от способа намагни-
чивания контролируемого изделия. С целью получения максималь-
ной чувствительности и разрешающей способности магнитного
метода неразрушающего контроля применяются различные виды
намагничивания материалов, среди которых пять основных:
продольное (полюсное), циркулярное, комбинированное, парал-
лельное, способом магнитного контакта.
5. МАГНИТНЫЕ МЕТОДЫ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО После намагничивания изделия осуществляется проявление
КОНТРОЛЯ (МНК) дефектов, состоящее в фиксировании магнитного поля над дефек-
том каким-либо методом: порошковым, феррозондовым, магнито-
МНК применяются только для контроля деталей и изделий, графическим и другими методами, которые будут рассмотрены в
изготовленных из ферромагнитных материалов, находящихся в дальнейшем. При этом контроль (выявление) дефектов осуществ-
намагниченном состоянии. МНК основаны на регистрации магнит- ляется двумя способами:
ных полей рассеяния, возникающих над дефектами, поэтому эти 1. Контроль дефектов на остаточной намагниченности
методы позволяют определять только поверхностные и подповерх- контролируемого изделия, пригодный только для магнитотвёрдых
ностные дефекты, залегающие в ферромагнетиках на глубинах, материалов с коэрцитивной силой НС больше 800 А/м (больше 10 Э).
не превосходящих 15 мм. В этом случае проявление дефектов осуществляется после
Дефекты наиболее легко обнаруживаются, когда направле- намагничивания контролируемого изделия и удаления его из
ние намагничивания контролируемой детали перпендикулярно намагничивающего поля.
направлению дефекта. Для оптимального выявления дефектов при 2. Контроль дефектов в приложенном магнитном поле,
МНК намагничивание контролируемых изделий производят в двух применяемый для магнитомягких материалов, у которых коэр-
направлениях, а деталей сложной формы – в нескольких направле- цитивная сила Hс<800 А/м (10 Э). В этом случае проявление дефек-
ниях. тов осуществляется после намагничивания контролируемого изде-
На рис. 5.1 приведена схема образования магнитного поля лия без его удаления из намагничивающего поля, т.к. без приложен-
над дефектом. Контролируемая деталь 1 с трещиной 2 помещена ного внешнего магнитного поля над дефектами образуются слабые
между полюсами NS постоянного магнита (электромагнита). Над магнитные поля рассеяния, не позволяющие выявить дефект. Этим
трещиной возникает магнитное поле рассеяния 3, эквивалентное способом контролируют детали сложной формы, а также в том
маленькому магниту с полюсами NS. случае, когда мощности источника питания недостаточно для
намагничивания всей детали вследствие ее больших размеров; в
приложенном магнитном поле рабочая индукция поля достигается
при почти в четыре раза меньшей напряженности магнитного поля.
После МНК обязательно проводится размагничивание
проконтролированного изделия.
5.1. Способы намагничивания
контролируемых изделий
Качество МНК существенно зависит от способа намагни-
чивания контролируемого изделия. С целью получения максималь-
ной чувствительности и разрешающей способности магнитного
метода неразрушающего контроля применяются различные виды
намагничивания материалов, среди которых пять основных:
продольное (полюсное), циркулярное, комбинированное, парал-
Рис. 5.1. Схема образования магнитного поля над дефектом лельное, способом магнитного контакта.
76 77
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 37
- 38
- 39
- 40
- 41
- …
- следующая ›
- последняя »
