Качественные и полуколичественные методы спектрального анализа. Кавецкая И.В - 30 стр.

      В методе появления и усиления линий пробы фотографируются, как
обычно, встык со спектром железа при помощи фигурной диафрагмы и
при тех же условиях, что и эталоны. Фотопластинки со спектрограммами
просматривают на экране спектропроектора.
      По таблице в спектре сначала определяется аналитическая линия,
соответствующая наименьшему содержанию элемента, а затем просматри-
ваются поочередно все остальные линии в сторону увеличения содержания
определяемого элемента. Когда проба содержит малое количество (0,01–
0,001 %) изучаемого элемента, в соответствующем ему спектре присутст-
вует мало чувствительных линий этого элемента – обычно 2–3. В таком
случае полуколичественное определение проводится по одной-двум наи-
более чувствительным (аналитическим) линиям путем визуальной оценки
их интенсивностей.
      Результаты анализов в методе появления линий приводятся, как пра-
вило, в виде интервалов концентраций «от» и «до», например, 0,001–0,003 %;
0,003–0,01 % и т. д.
      Достоинства метода появления и усиления линий (метода «послед-
них» линий) заключаются в следующем:
      1) метод позволяет использовать всю пластинку только для съемки
образцов;
      2) не требует большой затраты времени;
      3) не вызывает необходимости расходовать большие количества
стандартов;
      4) дает возможность определять большие концентрации элементов в
пробе;
      5) дает возможность определять из одной навески одновременно
концентрации большого числа элементов.
      Метод «последних линий» часто применяют для определения следов
элементов.
      Точность этого метода зависит от числа использованных последних
линий. При определении элементов с развитым спектром можно в принципе
достичь более высокой точности, чем в случае элементов с простым спек-
тром. Кроме того, относительная погрешность анализа зависит также от раз-
мера зерна фотоэмульсии и ее контрастности. Достигаемая относительная
точность анализа даже в наиболее благоприятных случаях не выше ±10 %.
      Метод последних линий пригоден для полуколичественного анализа
многих элементов.
                      ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ
      1. Изучить теоретические основы методов полуколичественного
спектрального анализа.



                                    30