Научные основы и технология шлифования заготовок. Киселев Е.С - 45 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

44
44
Наиболее распространен метод Н. Н. Давиденкова - И. А. Биргера из-
мерения технологических ос таточ ных напряжений [1]. В с оотве тс твии с ним
измеряют и фиксируют деформации анализируемого тела, возникающие в
результате послойного травле ния его поверхности. Дело в том, что до снятия
слоя, напряжения в нем уравновешиваются напряжениями в нижележащем
слое, а после снятия
слоя (и напряжений в нем) неуравновешенные напряже-
ния в нижележащем слое деформируют тело. Получе нные данные о дефор-
мациях затем пересчитывают в остаточные напряжения путем решения урав-
нений классической механики. Нар яду с трудоемкостью метода, существен-
ным его недостатком является разрушение образца вследствие послойного
его травления.
В последнее время все большее распространение
получают так назы-
ваемые неразрушающие методы [4] измерения остаточных напряжений, ос-
нованные на корреляционной связи между ними и тем и или иными электро-
магнитными свойствами образца.
6.3. И
ЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТ ЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС СИТОН-АРМ
ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ИЗМЕРЕНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ
ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ
Измерительно-вычислительный комплекс (ИВК) СИТОН-АРМ (рис.
6.1) предназначен для автоматизированного неразрушающего измерения ос-
таточ ных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов.
Ос та точные напряжения определяются путем измерения удельной электро-
проводности поверхностного слоя посредством регистрации и математиче-
ской обработки его амплитудо-фазо-частотной характеристики (АФЧХ).
Рис. 6.1. О
б
щий вид
ИВК СИТОН-АРМ:
1 – электроконтакт-
ный датчик; 2 – обр а-
зец; 3 – источник бес-
перебойного питания;
4 – электронный блок;
5 – монитор персо-
нального компьютера
2 1 4 3 5

Страницы