Научные основы и технология шлифования заготовок. Киселев Е.С - 46 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

45
45
Укрупненно процесс измерения остаточ ных напряжений состоит из
трех основных этапов:
1) сканирование поверхностного слоя образца с целью получения
АФЧХ поверхностного слоя путем сообщения ему серии высокочастотных
импульсов электрического тока и регистрации их искажений;
2) калибровка, состоящей в задании (или подборе) корреляционной за-
висимости для преобразования полученной АФЧХ в эпюру ос таточных
на-
пряжений;
3) идентификация АФЧХ с построением эпюры остаточных напряже-
ний.
Для реализации этого процесса в состав комплекса входят (см. рис.
6.1): электронный блок 4 с источником бесперебойного питания 3, набор
электроконтактных датчиков 1, персональный компьютер 5 со специальным
программным обеспечением, а также соединительные кабели. Электрокон-
так тный датчик 1 служит для
сообщения поверхностному слою образца за-
дающих импульсов тока и снятия с него откликов (в наборе имеются датчики
нескольких типоразмеров для сканирования образцов разного размера).
Электронный блок 4 генерирует задающие импульсы и накапливает отклики.
Блок бесперебойного питания 3 обеспечивает с табилизацию и бесперебой-
ность питания электронного блока. Персональный компьютер 5 служит для
сбора,
расшифровки и хранения АФЧХ, поступивших с электронного блока,
построения, отображения и распечатки эпюр напряжений и др.
Подробное описание устройства ИВК СИТОН-АРМ и его эксплуатации
дано в Инструкции пользователю (размещена в каталоге с программным
обеспечением ИВК). Ниже приведена типовая последовательнос ть действий
для измерения ос таточных напряжений:
1. Подготовить прибор к работе и
зафиксировать электроконтактный
датчик на поверхности образца в с оотве тствии с Инс трукцией по эксплуата-
ции ИВК СИТОН-АРМ.
2. Запустить программный интерфейс SITONMain.exe (рис. 6.2). Вы-
брать вкладку «АФЧХ-тестирование. Протоколы».
3. Создать новый протокол измерений, нажав кнопку «Создать», в от-
крывшемся окне «Редактирование/создание протокола» (рис. 6.3) указав све-
дения об измеряемом образце и нажав кнопку
«Создать протокол по введен-
ным параметрам».
4. Запустить процесс сканирования поверхностного слоя образца, на-
жав кнопку «Запустить процесс измерения» в главном окне и следуя появ-
ляющимся инструкциям.
5. Выпол нить калибровку измерения, выбрав вкладку «Калибровки по
ОН» в главном окне интерфейса и отметив в списке калибровок подходящую
(рис. 6.4).
6. Выпол нить идентификацию результатов
сканирования поверхност-
ного слоя, выбрав вкладку «Скан-идентификация ОН» в главном окне интер-
фейса (рис. 6.5).

Страницы