Фотостимулированные явления в твердых телах. Клюев В.Г. - 34 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВГУ | Воронеж

Составители: 

Рубрика: 

34
Далее эти электроны рекомбинируют с дырками, локализованными на
центрах люминесценции (переход с параметром β), и в процессе
освещения кристалла ИК-светом наблюдается кратковременное свечение
люминесценции до тех пор, пока все локализованные электроны
прорекомбинируют с локализованными дырками.
Последовательность процессов: возбуждения кристалла (τ
УФ
),
темновой паузы (τ
темн
) и собственно ФСВЛ (τ
ИК
) в виде зависимостей
соответствующих величин от времени – изображена на рис. 2.2.
I
УФ
(t)
1
τ
УФ
τ
темн
0 t
1
t
2
t
I
ИК
(t) 2
τ
ИК
0 t
1
t
2
t
J
люм
(t) S
запасенная
S
высвеченная
5
3 4
τ
ФСВЛ
0 t
ст
t
1
t
2
t
а) б) в)
Рис. 2.2. Зависимость от времени: интенсивности возбуждающего
УФ-излучения (кривая 1); интенсивности света, стимулирующего ФСВЛ,
условно обозначенного ИК (кривая 2); интенсивности люминесценции: в
процессе возбуждения (кривая 3); во время темнового интервала (кривая 4);
при измерении ФСВЛ (кривая 5)
В момент времени t = 0 на кристалл направляется УФ-излучение,
интенсивность которого постоянна (кривая 1 на рис. 2.2, а)). Зависимость
интенсивности люминесценции от времени представлена кривой 3 на этом
рисунке. Начиная с времени t = t
ст
, интенсивность люминесценции
практически не изменяется. Это так называемый режим «стационарной 
Далее эти электроны рекомбинируют с дырками, локализованными на
центрах люминесценции (переход с параметром β), и в процессе
освещения кристалла ИК-светом наблюдается кратковременное свечение
люминесценции до тех пор, пока все локализованные электроны
прорекомбинируют с локализованными дырками.
     Последовательность процессов: возбуждения кристалла (τУФ),
темновой паузы (τтемн) и собственно ФСВЛ (τИК) в виде зависимостей
соответствующих величин от времени – изображена на рис. 2.2.


      IУФ(t)
                        1

                    τУФ                    τтемн


      0                           t1               t2                          t
          IИК(t)                                            2

                                                            τИК


      0                           t1               t2                          t
          Jлюм(t)    Sзапасенная                                Sвысвеченная
                                                        5

                    3                  4
                                                            τФСВЛ


      0                     tст   t1               t2                          t
                   а)                  б)                 в)
      Рис. 2.2. Зависимость от времени: интенсивности возбуждающего
УФ-излучения (кривая 1); интенсивности света, стимулирующего ФСВЛ,
условно обозначенного ИК (кривая 2); интенсивности люминесценции: в
процессе возбуждения (кривая 3); во время темнового интервала (кривая 4);
при измерении ФСВЛ (кривая 5)

     В момент времени t = 0 на кристалл направляется УФ-излучение,
интенсивность которого постоянна (кривая 1 на рис. 2.2, а)). Зависимость
интенсивности люминесценции от времени представлена кривой 3 на этом
рисунке. Начиная с времени t = tст, интенсивность люминесценции
практически не изменяется. Это так называемый режим «стационарной

                                           34

Страницы