Анализ надежности электронных устройств с использованием САПР Mentor Graphics. Коноплев Б.Г - 26 стр.

UptoLike

26
10. КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
1. Что такое надежность электронной системы?
2. Что называют отказом электронной системы?
3. Какие используют количественные характеристики надежности?
4. Что называют вероятностью безотказной работы системы?
5. Что называют временем наработки на отказ?
6. Что называют интенсивностью отказов?
7. Как определяют интенсивность отказов элементов электронной системы?
8. Связь вероятности безотказной работы и интенсивности отказов.
9. Связь вероятности безотказной работы и наработки на отказ.
10. Связь наработки на отказ и интенсивности отказов.
11. Временная зависимость интенсивности отказов. Характерные участки этой зави-
симости.
12. Какие законы распределения времени отказов наиболее часто используют в прак-
тических расчетах?
13. Связь вероятности безотказной работы системы с вероятностью безотказной ра-
боты элементов без резервирования.
14. Связь интенсивности отказов системы с интенсивностью отказов элементов без
резервирования.
15. Что называют резервированием?
16. Виды резервирования.
17. Методы структурного резервирования.
18. Какой информацией необходимо располагать для практических расчетов надеж-
ности электронных изделий.
19. Что является входными данными для моделирования надежности систем в про-
грамме Reliability Manager?
20. На основе какой формулы производится расчет интенсивности отказов компо-
нентов системы?
21. Перечислите этапы расчета надежности в программе Reliability Manager.
22. В каких единицах измеряются FR и MTTF?
23. Опишите порядок задания условий рабочей среды.
24. Как осуществляется просмотр компонентных данных?
25. Что является функциональной группой и как она создается?
26. Опишите процесс введения в проект разъемов и соединений.
27. Как изменить значения внешних воздействий компонентной группы?
28. Объясните как производится импорт термических воздействий из приложения
AutoTherm?
29. Каким образом формируется рейтинговый отчет?
30. Как сравнить вероятности безотказной работы компонентов анализируемой сис-
темы?