Анализ надежности электронных устройств с использованием САПР Mentor Graphics. Коноплев Б.Г - 4 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТТИ ЮФУ | Таганрог

Составители: 

Рубрика: 

4
1. ОСНОВЫ РАСЧ ЕТА НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ
Надежностью называют свойство системы сохранять выходные параметры в
пределах установленных допусков. Соответственно, отказом называют событие, со-
стоящее в выходе значения хотя бы одного из параметров за пределы установлен-
ных допусков. Для практических расчетов используют различные количественные
характеристики надежности:
− вероятность безотказной работы Р(t) – вероятность того, что в течение от-
резка времени t все выходные параметры системы будут находиться в пре-
делах допустимых значений;
− наработка на отказ Т, [ч] – математическое ожидание длительности отрезка
времени до первого отказа системы;
− интенсивность отказов λ, [1/ч] – относительное изменение скорости появ-
ления отказов
()
)(tn
N
dt
tdn
−
=
0
λ
, (1)
где n – число отказов; t – время; N
0
– число однотипных элементов в выборке перед
началом испытаний.
В общем случае данные величины являются функциями времени t и связаны
друг с другом следующими выражениями:
()
()
∫
−=
t
dtttP
0
λ
exp
; (2)
()
∫
=
∞
0
dttP
T
; (3)
()
∫
∫
−=
∞
0
0
dtdtt
T
t
λ
exp
. (4)
В соответствии с выражениями (2) - (4), рассмотренная взаимосвязь носит
достаточно сложный характер. Одной из причин является нелинейная временная за-
висимость интенсивности отказов, типичный вид которой отражает график, пред-
ставленный на рис. 1.
Кривая интенсивности отказов имеет три характерных участка (см. рис. 1):
I - время приработки 0 < t < t
1
;
II - период стабильной работы t
1
< t < t
2
;
III - старение t > t
2
.
Наиболее важным с практической точки зрения является период стабильной
работы системы II (см. рис. 1), в течение которого средняя интенсивность отказов
фактически не изменяется:

Страницы