Анализ надежности электронных устройств с использованием САПР Mentor Graphics. Коноплев Б.Г - 5 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТТИ ЮФУ | Таганрог

Составители: 

Рубрика: 

5
λ = const. (5)
Рис. 1. Типичная зависимость интенсивности отказов систем от времени
С учетом (5), выражения (2) - (4) преобразуются к более простому виду:
P(t) = exp(-
λt); (6)
T = 1/
λ; (7)
P(t) = exp(-t/T). (8)
Расчетным путем найти величину интенсивности отказов для отдельного эле-
мента системы нельзя. Поэтому пользуются экспериментальными данными, полу-
ченными в результате длительного испытания большого числа элементов N
0
(см.
выраж. (1)).
Следует отметить, что экспоненциальный закон распределения, положенный в
основу выражения (6), достаточно адекватно отражает действительную картину от-
казов сложных электронных систем и позволяет получать относительно простые
аналитические выражения, удобные для расчета. Но он не является единственным.
Исследования некоторых элементов и систем показывают, что распределение вре-
мени отказов у них подчиняется законам, отличным от экспоненциального. В неко-
торых случаях рассматриваются, например, нормальное распределение, распределе-
ния Релея, Вейбулла, Пуассона и др.
Пусть рассматриваемая система (узел, модуль) состоит из N элементов более
низкого уровня иерархии. Тогда данные элементы с точки зрения надежности будут
включены последовательно, то есть отказ любого элемента приведет к отказу всей
системы. Предположим, что отказы различных элементов происходят независимо
друг от друга, то есть функции интенсивностей отказов элементов некоррелирова-
ны. Тогда вероятность безотказной работы системы будет определяться произведе-
нием вероятностей безотказной работы ее элементов Р
i
(t):
λ
0
I
IIIII
t t
2
t
1

Страницы