Проектирование, изготовление и исследование интерференционных покрытий. Котликов Е.Н - 49 стр.

UptoLike

Рубрика: 

49
Контрастный
узкополосный
диэлектрический
светофильтр
в
этом
случае
образован
повторением
структур
[(0,5
ВН
0,5
В
)
к
В
(0,5
ВН
0,5
В
)
к
]
2
или
[(0,5
НВ
0,5
Н
)
к
Н
(0,5
НВ
0,5
Н
)
к
]
2
.
На
рис
. 1.21
изображены
спектральные
зависимости
энергетического
коэффициента
пропускания
структур
[(0,5
ВН
0,5
В
)
к
В
(0,5
ВН
0,5
В
)
к
] (
кривая
1)
и
[(0,5
ВН
0,5
В
)
к
В
(0,5
ВН
0,5
В
)
к
]
2
(
кривая
2).
Как
видно
из
этих
рисунков
происходит
смещение
максимума
пропускания
в
коротковолновую
область
спектра
.
Это
связано
с
тем
,
что
зеркала
,
формирующие
светофильтр
,
имеют
максимум
отражения
на
длине
волны
,
смещённой
в
коротковолновую
часть
спектра
,
что
в
свою
очередь
,
определяется
структурой
этого
зеркала
.
0
2
00
300
500
600
700
0.
1
0.
2
0.
3
0.
4
0
.
5
T
λ
нм
400
2
0
970
980
990
1000
1100
1200
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1.0
T
λ
нм
2
1