ВУЗ:
Составители:
щей полированной поверхностью, так как структура рассматрива-
ется в отраженном свете. Наблюдаются микротрещины и неметалли-
ческие включения. Для выявления микроструктуры поверхность травят
реактивами, зависящими от состава сплава. Различные фазы протрав-
ливаются неодинаково и окрашиваются по разному. Можно выявить
форму, размеры и ориентировку зерен, отдельные фазы и структурные
составляющие.
Для анализа субмикроструктуры (структуры внутри зерен), кроме
световых микроскопов, используют электронные микроскопы с боль-
шой разрешающей способностью (увеличение до миллиона крат). Изо-
бражение формируется при помощи потока быстро летящих электро-
нов. Электронные лучи с длиной волны (0,04...0,12)⋅10
-8
см дают воз-
можность различать детали объекта, соответствующие по своим раз-
мерам межатомным расстояниям.
В просвечивающем электронном микроскопе поток электронов
проходит через изучаемый объект. Изображение является результатом
неодинакового рассеяния электронов на объекте (рис. 1.4).
а
б
в
Рис. 1.4. Изображение субзерен феррита в стали 20, полученное с помощью
просвечивающей электронной микроскопии: а – светлое поле;
б – темное поле в рефлексе [110]
α
-Fe; в – микроэлектронограмма (
×
50000).
При прямом методе изучают тонкие металлические фольги, тол-
щиной до 300 нм, на просвет. Фольги получают непосредственно из
изучаемого сплава последовательно механическим и ионным утоне-
нием. Для идентификации фаз, присутствующих в материале, применя-
ется дифракционный анализ с использованием темнопольной методики
(рис. 1.4б,в). Изображение тонкой структуры материала – светлополь-
ное изображение (рис. 1.4а) используется для анализа строения субзе-
4
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 9
- 10
- 11
- 12
- 13
- …
- следующая ›
- последняя »
