Автоматизированный контроль аналоговых интегральных микросхем. Крылов В.П. - 11 стр.

UptoLike

Составители: 

11
шины, часто называемой змерительным нулем", "измерительной
землей" и т. д. Схема поддержания нулевого потенциала (рис. 1.2,
слева) предусматривает использование двух проводов, подключае-
мых к соответствующему выводу микросхемы. Аналогичным обра-
зом на вывод микросхемы подается заданный потенциал с помощью
программного источника напряжения (рис. 1.2, справа). Назначение
программного источника напряжения состоит в том, чтобы форми-
ровать заданное напряжение на выводе ИМС. Кремниевые диоды
D1 и D2, включенные встречно-параллельно, обеспечивают защиту
устройств формирования потенциала при случайном разъединении
силового провода и провода обратной связи (ОС).
Рис. 1.2. Cхемы поддержания потенциала
При измерении электрических параметров микросхем с помощью
автоматизированных измерительных установок стандарт допускает
применение других методов измерения, не указанных в нем. При
этом погрешность измерения должна соответствовать погрешности
на измеряемый параметр, указанной в ЧТУ на микросхемы. Стандарт
не ограничивает перечень коммутирующих элементов, применяемых
для автоматизации измерений, требуя лишь обеспечение точности,
указанной в ЧТУ. Характер и значение нагрузки R
н
и схема ее под-
ключения также указываются в ЧТУ. При необходимости емкость и
индуктивность монтажных проводов, испытательных зажимов и из-
мерительных приборов, подключаемых к выходу микросхемы, учи-
тывают в параметрах нагрузки.
Эти безобидные на первый взгляд формулировки стандарта [6] в
целом ряде случаев могут стать серьезным препятствием для исполь-
зования автоматизированных тестеров иностранного производства в
качестве средств контроля отечественных микросхем. Ведь разра-