Автоматизированный контроль аналоговых интегральных микросхем. Крылов В.П. - 9 стр.

UptoLike

Составители: 

9
3000, 4000, 5000, 7000, 8000 собраны методы измерения электри-
ческих параметров, имеющих соответственно размерности мощно-
сти, частоты, времени, сопротивления и пр. (скорость нарастания,
крутизна преобразования, фазовый сдвиг и т. п.). Достаточно много-
численный класс 6000 образуют методы измерения относительных
(безразмерных) параметров. И наконец, в классе 9000 собраны ме-
тоды определения нагрузочных, амплитудных, амплитудно- и фазо-
частотных характеристик.
В качестве примера рассмотрим метод 6501 измерение коэффи-
циента усиления напряжения (K
уU
) для микросхем с одним входом.
Структурная схема для измерения K
уU
приведена на рис. 1.1.
Метод рекомендуется применять при испытаниях микросхем с
малым входным сигналом. Он позволяет уменьшить погрешность из-
мерения K
уU
, связанную с погрешностью измерителя переменного
напряжения. При измерениях на высоких частотах в качестве де-
лителя допускается использовать высокочастотный калиброванный
аттенюатор.
Основные элементы, входящие в структурную схему, должны
удовлетворять требованию
R
2
0, 01R
вх
,
где R
вх
входное сопротивление микросхемы.
Напряжение питания E1 подается на микросхему 2 от источни-
ка 3. Измеряют напряжение U
вых Г
на выходе генератора 1. Затем
переключатель B1 переводят из положения 1 в положение 2 и изме-
ряют напряжение U
вых
на выходе микросхемы 2 измерителем 4.
Коэффициент усиления напряжения определяют по формуле
K
уU
=
K
делU
U
вых
U
вых Г
,
где K
делU
коэффициент деления делителя, включенного на входе
микросхемы, определяемый по формуле
K
делU
=
R
1
+ R
2
R
2
.