Автоматизированный контроль аналоговых интегральных микросхем. Крылов В.П. - 9 стр.

                                                                9
3000, 4000, 5000, 7000, 8000 собраны методы измерения электри-
ческих параметров, имеющих соответственно размерности мощно-
сти, частоты, времени, сопротивления и пр. (скорость нарастания,
крутизна преобразования, фазовый сдвиг и т. п.). Достаточно много-
численный класс 6000 образуют методы измерения относительных
(безразмерных) параметров. И наконец, в классе 9000 собраны ме-
тоды определения нагрузочных, амплитудных, амплитудно- и фазо-
частотных характеристик.
   В качестве примера рассмотрим метод 6501 — измерение коэффи-
циента усиления напряжения (KуU ) для микросхем с одним входом.
Структурная схема для измерения KуU приведена на рис. 1.1.
   Метод рекомендуется применять при испытаниях микросхем с
малым входным сигналом. Он позволяет уменьшить погрешность из-
мерения KуU , связанную с погрешностью измерителя переменного
напряжения. При измерениях на высоких частотах в качестве де-
лителя допускается использовать высокочастотный калиброванный
аттенюатор.
   Основные элементы, входящие в структурную схему, должны
удовлетворять требованию

                         R2  0, 01Rвх ,

где Rвх — входное сопротивление микросхемы.
    Напряжение питания E1 подается на микросхему 2 от источни-
ка 3. Измеряют напряжение Uвых Г на выходе генератора 1. Затем
переключатель B1 переводят из положения 1 в положение 2 и изме-
ряют напряжение Uвых на выходе микросхемы 2 измерителем 4.
    Коэффициент усиления напряжения определяют по формуле
                               KделU Uвых
                      K уU =              ,
                                 Uвых Г

где KделU — коэффициент деления делителя, включенного на входе
микросхемы, определяемый по формуле
                                  R1 + R 2
                       KделU =             .
                                    R2