Автоматизированный контроль аналоговых интегральных микросхем. Крылов В.П. - 53 стр.

UptoLike

Составители: 

53
необходимо ли останавливать процесс измерения непосредственно
после определения брака по текущему параметру или выполнить
оставшиеся измерения. В-третьих, менять вид индикации при кон-
троле нескольких аналоговых устройств в одном корпусе ИМС. В-
четвертых, можно блокировать клавиатуру, задав двузначный па-
роль.
8. Дополнительные две возможности открывает нажатие кла-
виши SPEC.RUN. Первая возможность предполагает выбор одной
группы сортировки из предлагаемых трех классов BINNIG MODE.
Вторая возможность позволяет пользователю изменять времена за-
держек, прибавляя их к базовым значениям, которые от пользователя
не зависят.
9. Нажатие клавиши OUTPUT/INPUT открывает доступ в ре-
жим выбора подключаемых внешних устройств к тестеру.
В первом секторе поля экрана можно указать, какой из четырех
интерфейсных разъемов, установленных на задней панели тестера,
будет находиться в активном состоянии, то есть через какой разъ-
ем будет происходить передача информации на внешние устройства.
Если выбран обмен через канал общего пользования ОП), то по-
является дополнительное подменю:
TEST RESULTS (IN TADS) выдача результатов измерений;
ton (TEST RESULTS) выдача результатов измерений по ини-
циативе оператора. Данный режим рекомендуется только при работе
со строкопечатающим устройством;
CMOS MEMORY OUT (IN TADS) сохранение содержимого
ППЗУ программ. Инициализацию этого режима выполняет внешний
контроллер канала общего пользования ОП);
CMOS MEMORY IN (IN LADS) загрузка информации в
ППЗУ измерительных программ.
Во втором секторе определяются формат и способ выдачи резуль-
татов измерения. Выбранный здесь формат действителен при выдаче
результатов по всем каналам.
В третьем секторе задаются правила работы с автоматическим за-
грузчиком ИМС. Поскольку он не входит в лабораторный комплект,
то описания соответствующих возможностей опускаем.